Occasion FEI Helios NanoLab 400 #9194575 à vendre en France

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Fabricant
FEI
Modèle
Helios NanoLab 400
ID: 9194575
Style Vintage: 2007
Focused Ion Beam (FIB) system Detectors: Through-lens (TLD) Dual beam Accessories: OMNIPROBE Manipulator Gas Injection System (GIS) PT & TEOS Enhance etch (IODINE) AutoTEM G2 No STEM detector / STEM Capability 2007 vintage.
L'équipement de broyage ionique multifonctionnel de FEI Helios Nérabilité Lab 400 fournit une analyse de surface à haute résolution et à 3 dimensions et une préparation précise des échantillons. Le système haute performance offre une pression de chambre variable, des taux de dépôt élevés et des capacités de fraisage ionique supérieures. Cela permet aux chercheurs d'obtenir un profilage de profondeur et une préparation de surface reproductibles et précis à l'échelle du nanomètre pour diverses applications. L'unité de fraisage Helios NhouseLab 400 est composée d'une source d'ions, d'un microscope électronique à balayage (SEM), d'une chambre à vide élevé et d'une machine de commande informatique élaborée. La source d'ions produit un faisceau à haute énergie de particules de taille atomique qui sont ensuite dirigées vers l'échantillon. Dans le SEM, le faisceau est utilisé pour déterminer la forme, la taille et la composition chimique de l'échantillon. La chambre à vide isole l'échantillon des influences extérieures de l'environnement. Le Nanolab Helios est conçu pour fournir des processus d'enlèvement et de dépôt précis, reproductibles et contrôlés afin de préparer divers échantillons. Ses caractéristiques avancées comprennent un outil de polissage pulsé, un faisceau d'ions double actif, et un balayage multidimensionnel. Les faisceaux d'ions séparables permettent de contrôler avec précision la portée et la profondeur de gravure et de pulvérisation. Le balayage multidimensionnel garantit que l'échantillon peut être inspecté à divers niveaux, de la topographie à la composition élémentaire. En outre, le modèle peut effectuer l'imagerie haute résolution, la caractérisation chimique, le profilage de profondeur, et l'analyse transversale des structures de surface des matériaux et des dispositifs. Le FEI Helios Nérabilité Lab 400 est également équipé d'une gamme de sources de gravure ionique avancées, telles que des sources thermiques, chimiques et mécaniques. Cela permet aux chercheurs d'apporter des modifications précises à la surface de l'échantillon pour faciliter la nanofabrication et créer des structures tridimensionnelles complexes. La pression de chambre réglable d'Helios NhouseLab 400 supporte également différents processus, permettant aux chercheurs d'obtenir des résultats optimaux pour une large gamme d'échantillons. De plus, la chambre à vide à double niveau augmente le temps de préparation de l'échantillon de l'appareil en éliminant les ruptures multiples de chambre pour préparer les échantillons en vue d'une inspection ultérieure. Grâce à la pression à deux niveaux de la chambre, le processus de préparation de l'échantillon peut être réalisé avec une grande précision et efficacité. Le design unique, l'ingénierie de haute précision et le système sophistiqué de contrôle informatique du FEI Helios NhouseLab 400 offrent un outil puissant et polyvalent pour les chercheurs à la recherche d'une unité d'analyse et de préparation de surface fiable, facile à utiliser et avancée.
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