Occasion FEI Helios NanoLab 400 #9363526 à vendre en France
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ID: 9363526
Taille de la plaquette: 4"
Style Vintage: 2008
Dual beam Focused Ion Beam (FIB) system, 4"
Elstar electron column
Operating system: Windows XP 2002 SP3
Autoprobe 200
XEI Evactron
ThermoCube Chiller
User interface: FEI xT 3.8.10
FIB Sidewinder (21 nA)
GIS
Pt
SCM
IEE
Omni GIS carbon
Detectors:
ETD
CDM
TLD
2008 vintage.
Le FEI Helios Nérabilité Lab 400 est un puissant équipement de fraisage ionique qui peut être utilisé pour préparer des échantillons pour l'imagerie haute résolution et d'autres analyses de surface. Il utilise une source de faisceau d'ions pour pulvériser du matériau de la surface de l'échantillon dans un processus contrôlé d'amincissement quasi-monatomique. Les niveaux de pulvérisation peuvent être ajustés pour assurer l'élimination des quelques nanomètres de matériau supérieurs sans endommager la structure sous-jacente déterminée par la géométrie de l'échantillon et la résolution souhaitée. Le système offre un amincissement précis et reproductible des matériaux jusqu'à 0,1 nm par pas de profondeur sans dégradation de la surface. Helios Nérabilité Lab 400 combine une unité de mouvement de scène très variable et un détecteur de trajectoire/fin pour un positionnement et une analyse précis des échantillons. L'étape de balayage peut être garée en quatre positions prédéfinies, ce qui permet à la machine de traiter différentes orientations et tailles d'échantillons tout en conservant une répétabilité positionnelle élevée. Le détecteur grossier/fin intégré permet aux utilisateurs de positionner avec précision l'échantillon à des endroits prédéterminés, ce qui facilite le ciblage précis des caractéristiques sur la surface de l'échantillon. L'outil propose également une gamme de techniques d'analyse pour déterminer la composition et l'orientation du matériau pulvérisé. La fonction de contrôle intégré de la tension d'accélération fournit une gamme d'énergies d'accélération de 0,1 à 2.0kV, ce qui permet à l'utilisateur d'adapter le procédé de fraisage aux propriétés de l'échantillon et au matériau de l'échantillon. Le module d'activation de l'oxygène FEI Helios Nérabilité Lab 400 offre également une fonctionnalité supplémentaire qui peut être utilisée pour activer la surface de l'échantillon pour une résolution d'imagerie plus élevée. De plus, le dispositif intégré de verrouillage de sécurité éteint en toute sécurité l'actif en cas de conditions dangereuses. Dans l'ensemble, Helios Nérabilité Lab 400 est un modèle de fraisage ionique facile à utiliser et très sophistiqué qui offre un amincissement précis et reproductible pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surface. Il est conçu pour être compatible avec une grande variété de types d'échantillons, de tailles et d'orientations. Il offre également plusieurs fonctionnalités pour maximiser la sécurité et optimiser les performances.
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