Occasion FEI Helios NanoLab 450 #293816909 à vendre en France

FEI Helios NanoLab 450
Fabricant
FEI
Modèle
Helios NanoLab 450
ID: 293816909
Style Vintage: 2015
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Hard Disk Drive (HDD) 2015 vintage.
Le FEI Helios NhouseLab 450 est un équipement de broyage ionique de pointe conçu pour l'imagerie haute résolution et l'enlèvement de matériaux de précision dans les applications avancées de microscopie et de nanofabrication. Ce système intègre une technologie de pointe pour fournir aux chercheurs et aux ingénieurs un contrôle sans précédent sur la préparation et l'analyse des échantillons à l'échelle nanométrique. Au cœur de Helios Nérabilité Lab 450 se trouve sa capacité avancée de fraisage ionique, qui permet d'éliminer le matériau avec précision par le bombardement contrôlé de la surface de l'échantillon avec des ions à haute énergie. Ce procédé permet aux chercheurs d'enlever sélectivement les couches de matériaux, de créer des sections transversales ultra minces et de polir les surfaces pour obtenir une lisse sous-nanométrique, tout en minimisant les dommages à la structure sous-jacente. L'une des caractéristiques clés de la FEI Helios Nérabilité Lab 450 est sa capacité à effectuer à la fois le broyage ionique et l'imagerie électronique dans une seule plate-forme. Cette approche intégrée permet aux utilisateurs de faire une transition harmonieuse entre la préparation et l'analyse des échantillons, réduisant le besoin de transfert d'échantillons entre les différents instruments et minimisant le risque de contamination ou de dommages. L'unité est équipée d'une source d'électrons à haute résolution, qui permet une imagerie à l'échelle nanométrique avec une clarté et une précision exceptionnelles. En combinant le broyage d'ions avec l'imagerie électronique, les chercheurs peuvent étudier des structures d'échantillons complexes avec une précision et une précision sans précédent, en révélant des caractéristiques cachées et en obtenant des informations précieuses sur la composition et la morphologie de l'échantillon. Helios Nérabilité Lab 450 dispose également de capacités d'automatisation avancées, y compris le positionnement intelligent des faisceaux et la navigation des échantillons, qui rationalisent le flux de travail et améliorent l'efficacité de la préparation et de l'analyse des échantillons. En automatisant les tâches répétitives et en optimisant les paramètres des processus, les chercheurs peuvent obtenir des résultats plus cohérents et un débit plus élevé, ce qui rend la machine idéale pour des applications à haut volume et à durée critique. En plus de ses capacités de fraisage ionique et d'imagerie, le FEI Helios Nérabilité Lab 450 propose une gamme de techniques et d'accessoires supplémentaires pour améliorer sa fonctionnalité et sa polyvalence. Il s'agit notamment de dépôts assistés par gaz in situ pour le levage de lamelles TEM, de préparations cryogéniques pour des échantillons biologiques et de porte-échantillons avancés pour améliorer la stabilité et la compatibilité avec un large éventail de types d'échantillons. En outre, Helios NhouseLab 450 est complété par de puissants outils logiciels pour l'acquisition, le traitement et la visualisation de données, permettant aux chercheurs d'analyser des ensembles de données complexes, de générer des reconstructions 3D et d'extraire facilement des informations quantitatives. L'interface utilisateur intuitive de l'outil et les flux de travail personnalisables permettent aux chercheurs d'adapter l'instrument à leurs besoins spécifiques et d'optimiser les performances pour différentes applications. Dans l'ensemble, le FEI Helios Nérabilité Lab 450 représente un atout de pointe en matière de broyage ionique qui allie précision, polyvalence et automatisation inégalées pour répondre aux exigences exigeantes de la recherche moderne en microscopie et en nanofabrication. Qu'il s'agisse d'étudier des dispositifs semi-conducteurs, des échantillons biologiques ou des matériaux avancés, ce modèle fournit aux chercheurs les outils dont ils ont besoin pour repousser les limites de la découverte scientifique et de l'innovation dans le domaine nanométrique.
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