Occasion FEI Helios NanoLab 450S #9268041 à vendre en France

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Fabricant
FEI
Modèle
Helios NanoLab 450S
ID: 9268041
Focused Ion Beam (FIB) system Electron source: SCHOTTKY Thermal field emitter STEM Resolution: 0.8 nm Ion source: Gallium liquid metal Running hours: 1,000 Landing voltage: SEM: 50 V - 30 kV FIB: 500 V - 30 kV SEM Resolution: Optimal WD: 0.8 nm at 15 kV 0.8 nm at 2 kV 0.9 nm at 1 kV 1.5 nm at 200 V With beam declaration Coincident WD: 0.8 nm at 15 kV 0.9 nm at 5 kV 1.2 nm at 1 kV Ion beam resolution at coincident point: Preferred statistical method: 4.5 nm at 30 kV Selective edge method: 2.5 nm at 30 kV Stage: Flipstage with in-situ STEM detector OMNIPROBE Sample extractor 5-Axis piezo motorized XY Motion: 100 mm Loadlock: Maximum 80 mm diameter Sample types: Wafer pieces TEM Grids Whole wafers: Up to 100 mm User interface: Windows GUI with integrated SEM FIB Gas Injection System (GIS) Patterning Imaging mode Detectors: ETD, TLD, ICE Chamber 1: Carbon C10H8 Chamber 2: Tungsten W(CO)6 Chamber 3: Platinum C5H4CH3Pt(CH3)3 Remote components: NESLAB ThermoFlex900 chiller XDS10i Pre vacuum pump ONEAC Transformer: 200V AC, Single phase APCO UPS: 100V AC, Single phase EDS Resolution: <30 nm on Thinned samples Does not include Hard Disk Drive (HDD).
Le FEI Helios NurvLab 450S est un équipement de fraisage ionique qui offre des performances inégalées pour la préparation précise des échantillons. Ce système est conçu pour permettre aux chercheurs de produire des échantillons de la plus haute qualité pour la microscopie électronique à balayage (SEM) et la microscopie électronique à transmission (TEM). C'est un choix idéal pour préparer des échantillons pour l'imagerie, l'analyse et la fabrication d'appareils. Les techniques de broyage ionique et de lithographie utilisées par le Nwashington Lab 450S permettent de créer des motifs précis, des structures électriques et des caractéristiques mécaniques sur les surfaces des échantillons. Le procédé de broyage ionique est très contrôlé, ce qui permet aux chercheurs de produire des résultats uniformes et reproductibles. Le porte-échantillon rotatif à 360 degrés permet aux utilisateurs d'optimiser l'angle du faisceau d'ions pour obtenir les meilleurs résultats. L'unité dispose d'une machine à double faisceau ionique de haute puissance qui supporte plusieurs tensions de base (15-30 kV) et énergies de faisceau (1-10 keV). Les faisceaux d'ions doubles permettent aux chercheurs de graver à travers des structures complexes et de préparer des caractéristiques étrangement formées. En outre, les faisceaux d'ions doubles produisent moins de chaleur que les systèmes traditionnels de fraisage d'ions, ce qui permet aux utilisateurs de préparer rapidement et avec précision des échantillons pour le SEM et le TEM. L'outil est équipé avec un état du ContolPix™ d'art automatisé en modelant l'actif, qui automatise la définition de dessin, la création de masque, l'exposition et le broiement d'ion, en permettant aux utilisateurs à vite et copiez exactement des dessins ou définissez leurs propres masques personnalisés. Le modèle supporte également une variété de techniques de lithographie, y compris une double exposition à plusieurs niveaux pour les structures 3D et la nanolithographie. NanoLab 450S offre un large éventail d'options pour contrôler le courant de rayon d'ion et gravez le taux à l'eau forte pour garantir les résultats meilleurs possibles. En outre, l'équipement est conçu pour réduire les vibrations afin de maintenir la précision des résultats de gravure. Les fonctions de surveillance et de contrôle avancées sont également offertes par le Nérabilité Lab 450S, ce qui garantit que le processus est aussi sûr et contrôlé que possible. Le système de broyage ionique Helios Nérabilité Lab 450S est un système de pointe et très précis qui offre des performances inégalées pour la préparation des échantillons. Grâce à sa puissante unité à faisceau double ion, à sa machine de préhension automatisée et à ses fonctions de surveillance et de contrôle avancées, le Nérabilité Lab 450S est un excellent choix pour les chercheurs qui cherchent à produire des échantillons d'imagerie, d'analyse et de fabrication d'appareils de la plus haute qualité.
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