Occasion FEI Helios NanoLab 660 #9191763 à vendre en France

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FEI Helios NanoLab 660
Vendu
Fabricant
FEI
Modèle
Helios NanoLab 660
ID: 9191763
Style Vintage: 2014
Dual beam system With BRUKER EDS and vibration isolation table P/N: 1037473 TMC Vibration platform SPICER SC24 Magnetic field cancellation system Includes: Workstation with Windows XP PC Operating system: Windows 7 (2) Widescreen LCD monitors, 24’’ ELSTAR Electron column with UC technology TOMAHAWK Ion column with fast ion beam blanker Eucentric stage: 150 x 150 mm Beam deceleration mode In-lens detector TLD with SE and BSED modes Secondary Electron Detector (SED) In-column detectors: iCD and Mirror detector Beam current measurement CCD IR Camera Integrated plasma cleaner Oil-free pumping system Large table top with support Description / Part number iFast developers kit / 1011585 Seismic restraint kit / FP 6940/15 THERMOFLEX Chiller 60 Hz / 9432 909 96461 6-Channel detector amplifier / FP 6843/51 Charge neutralizer / FP 3440/32 Ice detector / FP 2303/09 Retractable dbs detector / FP 6903/20 Retractable stem 3+ detector / 1037464 System covers for helios nanolab / FP 3440/48 FEI Easylift ex nanomanipulator / 1033506 Delineation etch / FP 3400/21 Multichem gas delivery system / 1011754 Nano inst. kit nova nanolab / STRATA / HELIOS / V600 / 9425 061 69625 Cryocleaner ec / FP 2301/27 Cryocleaner ec spare vessel / FP 2301/28 Nav-cam+ / 1018721 Multichem installation tool / 1056070 Carbon deposition precursor for multichem / 1011761 Insulator enhanced etch precursor for multichem / 1011767 Platinum deposition precursor for multichem / 1011759 Selective carbon mill precursor for multichem / 1011763 (8) Wafer holders / 1004714 Joystick / FP 2311/01 Manual user interface / FP 2311/05 Mains matching and isolation transformer sem / FP 6343/02 Quick loader / FP 3610/13 Umb fib/tem specimen kit / FP 3660/05 Umb specimen holder kit / FP 3660/00 Vise specimen holder / FP 3660/10 2014 vintage.
Le FEI Helios Naptation Lab 660 est un équipement de broyage ionique de pointe conçu pour l'imagerie transversale et l'analyse nanométrique, permettant d'éclaircir les échantillons jusqu'à une échelle nanométrique. Son système à double faisceau unique combine la microscopie électronique à balayage et à transmission (SEM/TEM) pour graver et représenter efficacement la surface de l'échantillon avec des résolutions d'échelle allant jusqu'à 0,5 nanomètres. L'unité utilise un faisceau d'ions focalisés, ou FIB, pour des échantillons minces avec un flux d'ions fortement chargés. Les ions générés sont dirigés vers le matériau à extraire de l'échantillon, tout en contrôlant la trajectoire et l'énergie du faisceau pour atteindre les profondeurs de gravure souhaitées. Ceci permet d'enlever avec précision la matière jusqu'à quelques nanomètres. Helios Nérabilité Lab 660 comprend également une machine d'imagerie à distance de pointe permettant l'observation quasi-en temps réel de l'échantillon pendant le broyage. Avec son outil de vision intégré, le FEI Helios Nérabilité Lab 660 peut prendre des images de l'échantillon sous divers angles et agrandissements tout en gravant. Il permet également aux utilisateurs de stocker les images prises pendant le processus et de les sauvegarder pour une référence future. Le logiciel de fraisage automatisé de l'actif donne également aux utilisateurs la capacité de définir des paramètres et des paramètres de surveillance pour une variété de matériaux d'échantillon. Cela inclut la détermination de la vitesse de gravure souhaitée, de la profondeur, du type de gaz et de la température. Il dispose également d'une double source permettant aux utilisateurs de basculer entre les faisceaux ioniques à basse et haute énergie, permettant un contrôle plus efficace, uniforme et précis du processus de gravure. Le modèle Helios Nérabilité Lab 660 est conçu pour être utilisé dans les laboratoires commerciaux et universitaires, permettant l'imagerie et l'analyse avec une variété d'applications et d'échantillons ; cela comprend la caractérisation comme l'analyse des défaillances, l'enquête sur les défauts, la cartographie de la corrosion et l'imagerie 3D. Le FEI Helios Nérabilité Lab 660 est conçu avec des fonctionnalités conviviales et de haute performance à un prix abordable ; cela le rend attrayant pour les laboratoires de toutes tailles à la recherche d'une façon fiable d'effectuer l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique. Avec son équipement de pointe à double faisceau et ses capacités d'imagerie avancées, le Helios Nérabilité Lab 660 est le choix idéal pour des tâches d'imagerie haute résolution et de préparation d'échantillons.
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