Occasion FEI Helios PFIB #293817330 à vendre en France

FEI Helios PFIB est un équipement de broyage ionique spécialisé, utilisé principalement pour la nanofabrication et l'analyse des matériaux. Il utilise un faisceau d'ions focalisés (FIB) pour bombarder un échantillon avec un flux intense d'ions lourds, tels que le gallium et le soufre. Le faisceau d'ions érode avec précision et précision la surface de l'échantillon, éliminant une gamme d'épaisseurs de matériaux. Ce système permet également des techniques de gravure spéciales telles que l'imagerie haute résolution et la gravure à haut rapport d'aspect. Helios PFIB dispose d'un étage multi-axes commandé par ordinateur, qui permet un positionnement précis de l'échantillon avec une résolution sous-micron. Cela permet un haut degré de contrôle sur la surface de l'échantillon, permettant une analyse détaillée et la préparation de la surface. L'unité dispose d'un certain nombre de fonctionnalités avancées, y compris des techniques d'imagerie avancées telles que la microscopie électronique à balayage à émission de champ, l'imagerie à contraste élevé et la couture d'images, et une machine de contrôle de gaz in situ pour la gravure avancée assistée par gaz. L'outil de contrôle des gaz aide également à la préparation et au dépôt des échantillons, permettant un dépôt précis des matériaux sur l'échantillon. FEI Helios PFIB peut être utilisé sur une large gamme de matériaux, des semi-conducteurs, aux métaux, en passant par le verre et la céramique. Il peut atteindre une variété de résolutions et de caractéristiques, selon la taille, la forme et la composition de l'échantillon. Les techniques avancées de gravure telles que la gravure ionique réactive profonde et le tracé du contour permettent également d'utiliser Helios PFIB pour la préparation d'échantillons sur des formes compliquées. FEI Helios PFIB dispose d'un mode de balayage automatisé, qui permet un fonctionnement continu et un traitement efficace des échantillons. Il comprend également un ensemble d'analyses, qui permet aux utilisateurs d'effectuer une variété de mesures et de techniques d'analyse, y compris l'analyse de corrélation spatiale, l'imagerie électronique secondaire et l'AFM conductrice (cAFM). L'actif dispose d'une interface utilisateur intuitive, ce qui le rend facile d'accès pour les utilisateurs expérimentés et inexpérimentés. Il comprend également des capacités d'analyse temporelle et spatiale avancées, permettant des études sophistiquées sur les propriétés de l'échantillon. Dans l'ensemble, Helios PFIB est un puissant modèle de broyage d'ions qui fournit une préparation et une analyse précises et fiables des échantillons. Il est utilisé par divers chercheurs pour créer, étudier et comprendre des nanostructures complexes et pour faciliter l'analyse des matériaux.