Occasion FEI / MICRION 9500 EX #9383328 à vendre en France

Fabricant
FEI / MICRION
Modèle
9500 EX
ID: 9383328
Focused Ion Beam (FIB) system Stage type: 200 mm x 200 mm Load lock system IBM RISC System 6000 43P 140 Computer MCP Detector I-Gun type: column 5 nm Beam current: 3 pA - 931 pA (50 kV) Depo system: Tungsten Tmcts O2 H2O Cl2 / Br2 XeF2 Vacuum pump: Turbo molecular pump (2) Mechanical pumps (2) Ion getter pumps.
FEI/MICRION 9500 EX est un équipement avancé de fraisage d'ions conçu pour préparer de grands échantillons à analyser par microscopie électronique à transmission (TEM). Le système de fraisage ionique est idéal pour les utilisateurs qui ont besoin de performances, de précision, de stabilité et de commodité inégalées. FEI 9500 EX peut accueillir de grands échantillons, jusqu'à 6 "de diamètre. Sa grande taille d'échantillon permet de fraiser de plus grandes régions d'intérêt (RCI) en une seule étape. MICRION 9500 EX dispose également d'une fonction "spin-etch", qui permet une gravure rapide d'un échantillon plus grand, jusqu'à 3,6 "de diamètre. 9500 EX dispose d'un design ergonomique, offrant un confort supérieur lors des processus de fraisage. Sa chambre basculante et amovible permet un accès facile aux échantillons, ce qui facilite la mise en place et le démontage de l'unité de fraisage de différentes tailles et types d'échantillons. FEI/MICRION 9500 EX est conçu en utilisant une technologie sophistiquée de focalisation inertielle, avec une source d'ions négatifs de pointe. Cette technologie de pointe offre des performances et une stabilité supérieures, offrant à l'utilisateur les résultats les plus précis et précis. La machine de focalisation inertielle sophistiquée dispose également de technologies avancées de contrôle de faisceau et de surveillance de faisceau multiple, permettant à l'utilisateur d'aligner précisément le faisceau et d'ajuster la focalisation pour une préparation maximale de l'échantillon. L'outil intégré de grossissement et de capture d'image facilite l'imagerie continue automatisée et la focalisation. Cette fonctionnalité permet à l'utilisateur d'ajuster automatiquement la mise au point et de recueillir des images haute résolution des échantillons tout au long du processus de fraisage. Les systèmes d'imagerie automatisés soulèvent également des problèmes potentiels avec le faisceau d'ions pendant le processus de fraisage. Afin d'assurer une sécurité maximale et de prévenir la contamination des échantillons, le FEI 9500 EX dispose d'un atout de pompage intégré avec un modèle de débit de gaz avancé. Cet équipement fonctionne en extrayant des particules émises par l'air de la chambre de fraisage, protégeant l'échantillon d'une nouvelle contamination. MICRION 9500 EX offre une variété d'options de faisceau d'ions, des ions à faisceau large (E-Beam) aux ions à faisceau focalisé (FIB). Une large gamme de courants ioniques est disponible, offrant à l'utilisateur un niveau accru de précision et de précision pendant le processus de fraisage. 9500 EX est également certifié par la marque CE pour une utilisation en Europe et sur d'autres marchés internationaux. Dans l'ensemble, FEI/MICRION 9500 EX est un système avancé de broyage d'ions conçu pour la préparation précise d'échantillons pour TEM. Ses technologies de pointe, sa grande taille d'échantillon et son unité d'imagerie automatisée en font le choix idéal pour les chercheurs nécessitant des performances et une commodité inégalées.
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