Occasion FEI Strata FIB 205 #9293814 à vendre en France

FEI Strata FIB 205 est un équipement de fraisage ionique à double faisceau qui permet le sectionnement de précision et l'imagerie d'une large gamme de matériaux. Ce système est spécialement conçu pour fournir des échantillons en coupe transversale automatisés et de haute précision pour la lithographie avancée, la spectroscopie électronique, la préparation d'échantillons nanoanalytiques, la caractérisation des matériaux, l'analyse des défaillances et les applications de recherche. L'unité comprend un faisceau d'ions, une colonne de faisceau d'ions focalisés (FIB) et un microscope électronique à balayage à haute résolution (FESEM) pour l'imagerie corrélée. La source de faisceau d'ions de Strata FIB 205 est un canon à ions focalisé doté d'une source d'ions en métal liquide à base de gallium à haute énergie. Avec un courant de faisceau allant jusqu'à 2,5 mA, un faisceau raffiné d'ions Ga se propage à travers un monochromateur à cristal canalisé, fournissant un faisceau d'ions d'énergie désirée et de maquillage chimique. Ce faisceau optiquement focalisé passe encore à travers une lentille de poche électrostatique pour une manipulation fine du faisceau. La colonne FIB comporte un étage piézoélectrique x-y pour le contrôle latéral nanométrique et un étage à quartz z pour le contrôle vertical précis de l'échantillon. Il est intégré à un étage automatisé à trois axes, permettant un fraisage directionnel multi-sites, multi-niveaux et un positionnement précis de l'échantillon dans la chambre de fraisage. Pour l'imagerie haute résolution, une table d'isolement des vibrations entièrement fermée se combine avec un mandrin d'échantillon automatisé, un joint coulissant, un détecteur de thêta basse et un détecteur de rétrodiffusion basse pour l'imagerie SEM et l'analyse EDX dans une seule plate-forme. La colonne FIB dispose de deux modes de balayage pour le fraisage 3D automatisé FIB, à savoir Backscatter et Secondary Electron Imaging (SEI). Les deux modes de rétrodiffusion et SEI bénéficient du faisceau ionique focalisé permettant de microns et nanomètres à la précision de fraisage, respectivement. FEI Strata FIB 205 offre un débit élevé avec une précision accrue avec une résolution jusqu'à 10nm et des dommages minimaux à l'échantillon. La machine automatisée permet également une grande flexibilité, permettant aux chercheurs de passer d'un matériau à l'autre sans compromettre les performances. Avec la percée rapide de la science des matériaux et des nanotechnologies, cet outil de pointe fournit un outil pour apporter une contribution significative à l'avancement de ces domaines.