Occasion FEI Vectra 986+ #9192666 à vendre en France

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Fabricant
FEI
Modèle
Vectra 986+
ID: 9192666
Style Vintage: 2003
Focused ion beam system Upgraded to IET on 2006 Operating systems: Unix / Linux Ion mill column / Next gen column: 5nm Laser interferometer stage Gases: Chlorine Xenon diflouride Siloxane (TMCTS) or (Tetramethylcyclotetrasiloxane) Oxygen H2O Tungsten IR Camera included 2003 vintage.
FEI Vectra 986 + est un équipement de broyage ionique de pointe conçu pour une caractérisation microstructurale avancée des matériaux. Il utilise une colonne de faisceau ionique focalisé qui peut broyer des couches minuscules de sous-surface du matériau de l'échantillon pour exposer une zone désirée de matériau microstructural de sous-surface pour une analyse plus détaillée. Le système de fraisage ionique Vectra 986 + utilise une source de bombardement de gallium (Ga +) de 40 keV qui peut fraiser suffisamment profondément dans une large gamme de matériaux d'échantillons avec une très grande précision et des dommages minimes à l'échantillon. L'unité est équipée d'un puissant microscope optique X-Ageusement TM pour augmenter la résolution et les capacités d'imagerie. De plus, des accessoires en option permettent d'étendre la machine à des applications de simulation, d'imagerie 3D, de nanofabrication et d'analyse. FEI Vectra 986 + offre une variété de plates-formes de manutention d'échantillons pour le montage d'échantillons, allant d'un outil de chargement d'échantillons à 6 positions manuellement exploité à un poste de chargement automatisé à 40 positions. Cela permet aux utilisateurs de passer rapidement entre la préparation d'échantillons souterrains et la nanofabrication de structures 3D complexes. Vectra 986 + dispose d'un logiciel intégré de contrôle des processus, qui permet aux utilisateurs de gérer divers paramètres du processus de fraisage ionique, y compris la tension d'accélération et le courant de faisceau utilisé par l'actif, et de générer des trajectoires complexes pour les processus d'additif/fabrication. De plus, le modèle offre une isolation environnementale et une protection contre les contaminants atmosphériques, afin d'assurer un environnement de travail propre et sécuritaire. L'équipement prend en charge les modèles 2D et 3D de morphologie des échantillons, rendant le système très polyvalent et efficace. En outre, les capacités avancées de traitement et d'analyse d'images de l'unité peuvent être utilisées pour détecter la présence de matériaux sous-superficiels et pour effectuer des mesures détaillées de leurs dimensions, caractéristiques optiques et propriétés microstructurales. La haute performance et la polyvalence de FEI Vectra 986 + en font un outil idéal pour une grande variété d'applications industrielles et de recherche. Elle est particulièrement utile pour la caractérisation des matériaux des semi-conducteurs, des métaux, des polymères et des fibres, ainsi que pour la micro- et la nanofabrication et la nanoanalyse.
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