Occasion PHILIPS / FEI Helios NanoLab 600 #9229169 à vendre en France

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ID: 9229169
Style Vintage: 2009
Dual beam Focused Ion Beam system (FIB) Without loadlock With regular stub sample holder Process: Xsection preparation / Imaging Pre-pump with chiller Missing parts / Accessories: High voltage power supply for e-beam defect 2009 vintage.
Le PHILIPS/FEI Helios Nérabilité Lab 600 est un équipement de fraisage ionique à double faisceau conçu pour des applications de nanofabrication de précision. Il combine les capacités du faisceau ionique focalisé (FIB) et du microscope électronique à balayage (SEM) dans une plate-forme polyvalente unique qui offre une haute précision, haute vitesse et haute résolution d'imagerie. Le système dispose d'une chambre FIB à deux canons qui est utilisée pour délivrer un courant de poutre élevé et un matériau de pulvérisation pendant les opérations de fraisage. Sa grille haute tension réglable permet de contrôler le faisceau pendant le fraisage. La chambre FIB contient également une unité de vide capable d'atteindre une pression inférieure à 1x10-6 Torr. La machine à double faisceau assure que la même zone peut être broyée et imagée en une seule passe, minimisant ainsi le temps de cycle total. Le microscope électronique à balayage (SEM) de FEI Helios NhouseLab 600 est capable de fonctions d'imagerie avancées et est amélioré avec l'ensemble optionnel d'imagerie par faisceau électronique. Ce paquet augmente les capacités de l'outil d'imagerie, permettant une résolution d'imagerie supérieure, l'analyse élémentaire EDS haute sensibilité et la diffraction des rayons X (XRD). L'actif comprend également des systèmes automatisés de manutention et de remplacement des échantillons. La plate-forme automatisée de nivellement des échantillons se déplace de haut en bas, au besoin pour le fraisage/gravure et l'imagerie. Un modèle automatisé d'ouverture du couvercle est mis en place pour le retrait et le remplacement des porte-échantillons. Ces fonctionnalités permettent un traitement automatisé ininterrompu des échantillons. L'équipement dispose d'un étage x et y-axes de haute précision avec une précision de taille de 1nm. L'étage est piloté par des servo-amplificateurs numériques séparés, ce qui le rend adapté aux applications sous-microns. En outre, il est équipé d'un système de palier à air qui assure une manipulation lisse et précise des échantillons. En conclusion, PHILIPS HELIOS NANOLAB 600 est une unité avancée de fraisage ionique qui fournit une plate-forme double faisceau polyvalente pour fraiser et imager des nanostructures avec une grande précision. Sa machine automatisée de manutention d'échantillons, son étage x et y-axes de haute précision et sa chambre FIB à double canon se combinent pour en faire un outil puissant pour la nanofabrication.
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