Occasion PHILIPS / FEI Nova NanoLab 600i #293799586 à vendre en France

ID: 293799586
Dual beam Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Gas injection system for deposition: SiO2, Pt Manipulator resolution Transmission Electron Microscopy (TEM) sample kit PC.
PHILIPS/FEI Nova NconceptuLab 600i est un équipement de broyage ionique de pointe conçu pour des applications avancées d'analyse de matériaux et de nanofabrication. Cet instrument puissant offre des performances et une polyvalence supérieures dans les processus de nanofabrication de précision, ce qui en fait un outil essentiel pour les chercheurs et les ingénieurs dans les domaines de la nanotechnologie, de la science des matériaux et de la fabrication de semi-conducteurs. Le système est doté d'une colonne de faisceau d'ions sophistiquée qui génère des faisceaux d'ions de haute énergie pour le broyage de précision, la gravure et le dépôt à l'échelle nanométrique. Cela permet la manipulation et la modification de matériaux avec une grande précision et contrôle, permettant la création de nanostructures complexes et de motifs avec une résolution sous-nanométrique. L'une des caractéristiques clés du FEI Nova Nlorsqu'il s'agit de ses capacités d'imagerie avancées, qui comprennent la microscopie électronique à balayage haute résolution (SEM) et l'imagerie par faisceau d'ions focalisé (FIB). Ces modalités d'imagerie fournissent un aperçu détaillé de la topographie, de la composition et de la structure des échantillons, ce qui permet de suivre et d'analyser en temps réel les processus de broyage. L'unité est également équipée d'une spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire et la cartographie des échantillons, ce qui renforce encore les capacités d'analyse de l'instrument. La fraiseuse à ions est capable d'enlever et d'éclaircir les matériaux avec un débit élevé, ce qui la rend idéale pour un large éventail d'applications telles que la préparation d'échantillons pour la microscopie électronique à transmission (TEM), le prototypage de dispositifs, l'édition de circuits et l'analyse des pannes. L'outil offre une variété d'espèces de faisceaux d'ions, y compris le gallium (Ga), le néon (Ne) et le xénon (Xe), permettant des procédés de fraisage adaptés aux propriétés et aux exigences spécifiques des matériaux. PHILIPS Nova Nérabilité Lab 600i est équipé de fonctions avancées d'automatisation et de contrôle logiciel qui améliorent la commodité d'utilisation et l'efficacité du flux de travail. L'atout comprend des interfaces logicielles intuitives pour la configuration facile des paramètres, le développement de recettes et l'analyse des données, la rationalisation du processus expérimental et la facilitation des résultats rapides et reproductibles. En outre, l'instrument offre des capacités automatisées de navigation par étapes et de manipulation d'échantillons, permettant un traitement à haut débit de plusieurs échantillons avec une intervention minimale de l'utilisateur. En outre, le modèle de fraisage ionique est conçu pour la polyvalence et l'adaptabilité, avec des configurations personnalisables et des accessoires pour répondre à divers besoins de recherche. Des caractéristiques facultatives telles que les systèmes de soulèvement in situ, les systèmes d'injection de gaz et les porte-échantillons cryogéniques élargissent la fonctionnalité de l'instrument et permettent une plus large gamme d'applications dans la nanofabrication, la caractérisation des dispositifs et la recherche sur les matériaux. En conclusion, l'équipement de fraisage ionique Nova Nérabilité Lab 600i représente une solution de pointe pour l'analyse de matériaux avancés et les tâches de nanofabrication. Avec sa technologie avancée de faisceau ionique, ses capacités d'imagerie haute résolution, ses fonctionnalités d'automatisation et ses configurations personnalisables, cet instrument fournit aux chercheurs et aux ingénieurs un outil puissant pour repousser les limites des nanosciences et de la technologie.
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