Occasion SCIA Ion Mill 200 #293819419 à vendre en France

Fabricant
SCIA
Modèle
Ion Mill 200
ID: 293819419
Style Vintage: 2019
Ion beam etching and milling system (2) Process chambers with vacuum and Ion beam source Electrical cabinet and software control Point detection system (OES) Interface: SECS / GEM Handling unit: MX700 with (2) Cassette load locks Pump system Vacuum pre-aligner 2019 vintage.
SCIA Ion Mill 200 est un équipement de broyage ionique de pointe spécialement conçu pour l'enlèvement de matériaux de haute précision et la modification de surface dans les domaines de la fabrication de semi-conducteurs, de la science des matériaux et de la nanotechnologie. Cet équipement de pointe utilise un faisceau ionique ciblé pour graver et polir sélectivement des échantillons avec une précision et un contrôle inégalés, offrant aux chercheurs et aux ingénieurs un outil puissant pour obtenir des finitions de surface sous-nanométriques et des capacités de nanostructuration complexes. Au cœur de Ion Mill 200 se trouve une source d'ions sophistiquée capable de générer un faisceau d'ions énergétiques, typiquement du xénon ou de l'argon, avec des énergies allant de quelques dizaines à des centaines d'électrons volts. Ce faisceau d'ions est dirigé vers la surface de l'échantillon, où il interagit avec le matériau, provoquant la pulvérisation d'atomes et finalement la gravure des couches supérieures avec une précision remarquable. En faisant varier l'énergie du faisceau d'ions, le courant et les paramètres de balayage, les utilisateurs peuvent adapter le processus de fraisage pour obtenir des taux spécifiques d'enlèvement de matériaux, de rugosité de surface et de profils de gravure, ce qui le rend adapté à un large éventail d'applications nécessitant un enlèvement de matériaux précis et une modification de surface. L'une des principales caractéristiques du SCIA Ion Mill 200 est son système avancé de contrôle des faisceaux, qui permet aux utilisateurs de définir précisément la zone de fraisage avec une précision de sous-microns. Cela permet de créer des motifs complexes, des structures fines et une rugosité de surface contrôlée au niveau nanométrique. En outre, l'unité est équipée d'outils sophistiqués d'imagerie et de métrologie qui fournissent des commentaires en temps réel sur le processus de fraisage, permettant aux utilisateurs de surveiller et d'ajuster les paramètres à la volée pour atteindre le résultat souhaité. Ion Mill 200 est capable de manipuler une variété de types et de tailles d'échantillons, de petites plaquettes semi-conductrices à de plus grands substrats, grâce à sa conception polyvalente de porte-échantillons et à ses configurations d'étages personnalisables. Cette flexibilité le rend adapté à un large éventail d'applications, y compris le prototypage des dispositifs, l'analyse des défaillances et la préparation des échantillons pour la microscopie électronique à transmission. En plus de ses capacités de fraisage avancées, SCIA Ion Mill 200 propose une gamme de procédés et de techniques spécialisés pour modifier la surface, y compris le polissage du faisceau d'ions, le dépôt de matériaux et le dépôt à l'échelle nanométrique induit par le faisceau d'ions. Ces capacités supplémentaires améliorent encore la polyvalence de la machine, permettant aux utilisateurs d'effectuer des tâches complexes de traitement des matériaux avec précision et efficacité. Dans l'ensemble, l'Ion Mill 200 représente une solution à la fine pointe de la technologie pour les chercheurs et les ingénieurs qui cherchent à obtenir un enlèvement et une modification de surface ultra précis à l'échelle nanométrique. Avec sa technologie avancée de faisceau d'ions, ses paramètres de traitement personnalisables et ses fonctions d'imagerie et de contrôle complètes, cet outil offre un outil puissant pour faire progresser la recherche et le développement dans des domaines tels que la fabrication de semi-conducteurs, la science des matériaux et la nanotechnologie.
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