Occasion AMETEK INSPECT F FEG-SEM #9276757 à vendre en France

AMETEK INSPECT F FEG-SEM est un microscope électronique à balayage de canon à émission de champ (FEG-SEM) de AMETEK INSPECT, une division d'AMETEK, Inc. Le FEG-SE est un instrument d'analyse couramment utilisé pour la recherche en sciences des matériaux, la nanotechnologie, l'inspection des dispositifs semi-conducteurs, l'analyse des défaillances et l'ingénierie inverse. Le FEG-SEM permet à l'utilisateur d'inspecter les échantillons à haute résolution jusqu'au niveau du sous-nanomètre. INSPECT F FEG-SEM est un instrument haut de table qui est capable d'effectuer des investigations à haute résolution avec des courants de faisceau faibles et une imagerie à haut courant à grand champ de vision. Cet équipement dispose d'un système de vide intégré avec une vanne de commutation haute vitesse nanoseconde et une jauge de vide active, conçu pour assurer des conditions de vide optimales. Le FEG-SEM est équipé d'un canon d'émission de champ UltraBright FE Schottky pour l'imagerie haute résolution et d'un détecteur en colonne pour l'imagerie automatisée. En outre, la chambre d'échantillonnage standard est conçue pour faciliter l'échange rapide d'échantillons à l'aide d'un mécanisme de chargement automatisé. AMETEK INSPECT F FEG-SEM fournit plusieurs fonctionnalités d'automatisation telles que le réglage automatique de la hauteur eucentrique et le transfert d'échantillon impartial pour l'imagerie à haut débit. L'unité est équipée de traitement de signal pour augmenter la fidélité de l'image, y compris le gain automatique, le contraste automatique, la correction du champ plat, et le filtrage numérique de l'image. En outre, la FEG-SEM comprend plusieurs auxiliaires de post-traitement tels que des reconstructions de zones et des étalonnages de détecteurs. Le FEG-SEM est conçu avec diverses précautions de sécurité, y compris un interrupteur d'arrêt d'urgence et des interrupteurs de porte d'enclenchement. Une interface utilisateur graphique interactive simplifie le fonctionnement et l'acquisition de données. De plus, la machine modulaire permet à l'utilisateur de configurer des composants, tels que des détecteurs et un chargeur d'échantillons, pour leur application spécifique. INSPECT F FEG-SEM est conçu pour fournir aux utilisateurs un microscope électronique à balayage fiable, polyvalent et abordable pour diverses applications. La gamme de capacités techniques, la précision et la précision font du FEG-SEM un outil idéal pour la recherche en sciences des matériaux, la nanotechnologie, l'inspection des dispositifs semi-conducteurs, l'analyse des défaillances et l'ingénierie inverse.