Occasion FILMETRICS F20 #293621612 à vendre en France

FILMETRICS F20 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir une mesure de haute précision et non destructive de l'épaisseur des couches minces et des constantes optiques sur un large éventail de matériaux et d'angles d'émission. Le système utilise un ensemble d'algorithmes avancés pour permettre des mesures précises et reproductibles en quelques secondes, permettant une caractérisation rapide et facile des couches et paramètres de l'appareil qui ont des implications directes sur les performances de l'appareil. L'unité FILMETRICS F 20 se compose de deux composants principaux : une tête de mesure et une console de commande. La tête de mesure contient une large source lumineuse qui est utilisée pour mesurer les propriétés optiques de l'échantillon de plaquette sur une gamme d'angles d'émission. La console de contrôle fournit une interface conviviale pour contrôler la position et la sélection de l'échantillon, ainsi que des options de sortie de données. Une gamme d'accessoires est disponible pour la machine F20 afin de faciliter la mesure des échantillons, y compris les lentilles, prismes, filtres et autres composants optiques. L'outil F 20 intègre un actif breveté de détection d'ellipsométrie spectrale (SED) qui utilise l'interférence optique pour mesurer avec précision l'épaisseur et les constantes optiques de l'échantillon, ainsi que la rugosité de surface. Cela permet des mesures précises et répétables en secondes tout en éliminant la nécessité de la destruction et de la manipulation des échantillons. Le modèle SED permet également de détecter et de suivre avec précision la métrologie des couches minces et d'autres paramètres des matériaux. L'équipement FILMETRICS F20 offre une gamme d'options d'analyse de données pour aider les utilisateurs à calculer avec précision les paramètres requis et à visualiser les résultats. Le système peut également fournir des sorties de données dans des formats populaires, y compris ASCII, CDF, et binaire, pour faciliter le partage et l'analyse des données. L'unité FILMETRICS F 20 est capable de fournir des mesures précises et répétables pour une gamme de matériaux, y compris les semi-conducteurs, les métaux et les couches diélectriques. La machine offre une plate-forme idéale pour les chercheurs cherchant à caractériser avec précision et rapidité les couches minces et les effets de surface pour une variété d'appareils et d'applications.