Occasion JOHANNO OTTO VKS 75B Control #9171574 à vendre en France

JOHANNO OTTO VKS 75B Control est un microscope électronique à balayage (SEM) et un équipement de manipulation d'échantillons utilisé dans les laboratoires de recherche pour analyser les structures et les propriétés complexes des échantillons. Ce système est livré avec une variété d'accessoires, y compris : un porte-échantillon SEM et un sous-système de manipulation d'échantillon ; un détecteur de rayons X dispersifs en énergie (EDX) ; un détecteur d'électrons secondaire dans la lentille ; un détecteur d'électrons d'imagerie ; et un étage thermique/pression variable. Le porte-échantillon SEM offre une plate-forme sécurisée pour le traitement des échantillons, permettant un positionnement précis, une meilleure stabilité des échantillons et des images en temps réel au microscope électronique à balayage. Le sous-système de manipulation de l'échantillon fournit un contrôle motorisé précis de l'étage de microscope électronique à balayage pour déplacer l'échantillon vers le haut et vers le bas et effectuer des opérations de balayage contrôlé. La conception motorisée à faible vibration améliore également la capacité de l'appareil à capturer des images détaillées. Le détecteur de rayons X dispersifs en énergie (EDX) effectue une analyse qualitative et quantitative des rayons X des échantillons pour mesurer leur composition élémentaire. Ce détecteur est également compatible avec une large gamme de techniques standard de détection de rayons X et a une résolution énergétique sélectionnable de 60 à 120 eV. Cela le rend adapté aux applications de quantification et de cartographie des oligo-éléments. Le détecteur d'électrons secondaire dans la lentille (SED) est un détecteur à haute résolution qui permet l'imagerie précise des échantillons. Ce détecteur délivre une large gamme de signaux de surface, y compris les électrons secondaires, la topographie et l'émission thermionique. Le détecteur d'électrons d'imagerie est un outil puissant qui fournit des images numériques avec un rapport signal/bruit élevé et un faible comptage électronique, permettant une imagerie détaillée des échantillons à différents grossissements. L'étage thermique/pression variable permet à l'utilisateur de simuler différents environnements de gaz et de température. Cette étape permet de contrôler la température entre -50 ° C et 50 ° C et offre un contrôle de pression variable jusqu'à 10 torr. Cela permet une meilleure compréhension des propriétés de l'échantillon sur une gamme d'environnements simulés. VKS 75B Control machine est un instrument polyvalent et convivial pour l'analyse d'échantillons dans les laboratoires de recherche. Ses capacités et sa large gamme d'accessoires permettent aux chercheurs de produire et d'analyser des structures d'échantillons complexes, de mesurer avec précision leur composition élémentaire et de mieux comprendre leurs propriétés sur une gamme d'environnements simulés.