Occasion PRECISA XR205A #9049670 à vendre en France

PRECISA XR205A est un diffractomètre à rayons X de précision spécialement conçu pour les petits échantillons. La technique de diffraction des rayons X mesure les distances, les formes et les angles des structures cristallographiquement définies et est utilisée dans diverses applications de la science des matériaux. XR205A est un système polyvalent de diffractomètre à rayons X qui comprend un étage d'échantillonnage, un générateur de rayons X, une fente stigmatique et le détecteur. Le générateur de rayons X produit le rayonnement X monochromatique d'une tension d'anode spécifique et du matériau de filtre de sorte que le rayonnement X-Ray est approprié pour les petits échantillons. Il est équipé d'un mécanisme d'obturation motorisé et est réglé avec un gain proportionnel de 24V/A. Les volets assurent la protection de l'échantillon pendant le processus de diffraction en bloquant le rayonnement lorsqu'il n'est pas utilisé. L'étape d'échantillonnage est conçue pour permettre de placer l'échantillon directement à la surface de l'étape sans aucun prétraitement. L'étage est également capable de se déplacer dans les directions X, Y et Z, ce qui le rend adapté à une large gamme d'échantillons. La rotation maximale est de 800 degrés, ce qui permet de mesurer plusieurs angles à partir d'un même échantillon. La fente stigmatique est destinée à rétrécir le faisceau spectral afin de réduire la diffusion de fond. Un ensemble de trois ouvertures, avec des diamètres variables de 0,5mm à 5mm, peut être utilisé pour des mesures d'échantillons précises. Le détecteur est capable de mesurer la distribution d'intensité et de générer des images en 2 dimensions lorsque l'échantillon est tourné sur l'étage de l'échantillon. En utilisant le détecteur, PRECISA XR205A est en mesure d'acquérir des données très précises pour analyser les cristaux cristallographiques et leurs propriétés. XR205A est un diffractomètre à rayons X efficace conçu pour mesurer l'information structurelle de petits échantillons. Avec son générateur de rayons X, son étage d'échantillonnage, sa fente stigmatique et son détecteur, le diffractomètre offre une plate-forme idéale pour étudier les propriétés des matériaux cristallins. Il s'agit donc d'un outil inestimable pour les chercheurs en sciences des matériaux et dans des domaines connexes.