Occasion ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600 #9353792 à vendre en France

ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600 est un équipement « masque & wafer inspection » conçu pour l'inspection automatisée de motifs gravés sur des photomasques, des plaquettes et d'autres substrats. Composé d'une variété de technologies optiques de pointe, il permet une haute résolution, l'imagerie sans défaut et l'évaluation. TSK Win-Win 50-1600 utilise une caméra CCD à 4 canaux pour capturer des images d'un large éventail de niveaux de résolution. Il peut acquérir jusqu'à 2000 images par seconde, et son système d'objectif offre une résolution de 0,3 micron et un zoom réglable de 6x. De plus, un laser infrarouge (IR) et une optique haute performance offrent les meilleures capacités d'imagerie en classe. Parmi les autres caractéristiques notables, mentionnons : un outil d'aide au balayage laser (LASWAF) ; une unité optionnelle de reconnaissance des masques de caractères, qui peut détecter et identifier les défauts des faces A ou B des masques ; ainsi qu'une unité d'alignement intégrée et des outils de traitement des données. La machine est bien adaptée pour l'inspection automatisée, précise et répétable des défauts, et fournit une sortie de données de résultat rapide et une classification fiable des données de motif. L'interface conviviale facilite le processus de configuration, et l'outil est capable de balayage et de détection haut de gamme même dans des motifs complexes. ACCRETECH Win-Win 50-1600 est hautement personnalisable, car il peut être équipé d'une variété de logiciels dont : WIN-Verity, la plateforme de traitement d'image et de logiciel leader dans l'industrie ; VertexP2 le logiciel, son progiciel de visualisation et d'analyse en temps réel ; et d'autres outils avancés. En outre, il peut être utilisé à la fois pour l'analyse des défauts et les applications de métrologie, grâce à ses capacités de calcul intégrées DIP, CMAPI et ECD. Dans l'ensemble, Win-Win 50-1600 est un impressionnant outil d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour répondre aux besoins en constante évolution de l'industrie des semi-conducteurs. Son imagerie haute résolution, combinée à l'optique avancée, au laser IR et à une gamme de logiciels, lui donne la capacité de détecter et d'identifier les défauts d'un large éventail de modèles, ce qui en fait un outil inestimable pour les tâches de contrôle de la qualité.