Occasion ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600 #9373221 à vendre en France
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L'équipement d'inspection des masques et plaquettes ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600 est une solution automatisée pour l'inspection des photomasques et plaquettes utilisées dans la fabrication des dispositifs semi-conducteurs. Le système est capable de détecter des défauts à la surface d'une plaquette ou d'un photomasque avec une grande précision et un faible bruit. L'unité est conçue pour fournir des points de contrôle des processus critiques pour diverses applications, y compris la lithographie, l'inspection des obligations et les inspections des bords. Il est équipé d'un scanner avancé à haut grossissement qui permet de détecter les défauts microscopiques et les anomalies à la surface des objets inspectés. En outre, TSK Win-Win 50-1600 peut être configuré avec un module de recouvrement direct d'images en temps réel qui compare la plaquette ou la photomasque à un modèle ou à un échantillon de référence avec beaucoup plus de précision que les systèmes traditionnels de recouvrement d'images. Cela permet de déterminer avec précision l'uniformité, la précision et la cohérence des procédés. La machine est également équipée d'un outil de reconnaissance d'objets polyvalent et puissant, qui permet d'identifier rapidement des objets tels que des matrices, des tampons et d'autres structures sur la plaquette ou la photomasque. En outre, l'actif peut détecter des particules, des taches, des lignes, des vides et d'autres contaminations de surface et fournir des informations détaillées sur chaque défaut détecté. ACCRETECH Win-Win 50-1600 est un modèle très fiable doté d'une interface intuitive et de fonctions faciles à utiliser. Il peut être configuré et exploité avec une formation minimale et peut prendre en charge la plupart des principaux formats de plate-forme d'équipement d'exploitation, y compris Windows et Linux. Le système contient également une variété de caractéristiques de sécurité pour assurer un fonctionnement optimal. Win-Win 50-1600 est un outil capable d'assurer des résultats de haute qualité dans la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. Avec sa grande précision, son faible fonctionnement sonore et sa polyvalence, c'est un choix idéal pour l'inspection automatisée et la détection des défauts des photomasques et des plaquettes.
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