Occasion ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9281217 à vendre en France

ACCRETECH/TSK Win-Win 50 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes utilisé dans la production de semi-conducteurs, qui permet l'inspection de substrats et de masques en haute résolution avec un large champ de vision. Le système utilise une unité de projection d'imagerie directe et un objectif de type gaufre modifié optiquement pour assurer une image claire ou « transparente » de l'échantillon sans distorsion. TSK Win-Win 50 peut détecter une variété de caractéristiques de motifs, telles que des largeurs de lignes fines, des bords de lignes, des formes de circuits et des formes de motifs de couches imprimées, ainsi que des défauts de surface. En outre, la machine est équipée d'un outil de balayage avancé et rapide qui supporte un débit élevé. Il est capable d'acquérir rapidement une variété de substrats et de masques avec un champ de balayage allant jusqu'à 24,6 x 17,9 mm. Il dispose également d'un atout d'imagerie haute résolution pour détecter les défauts de traitement minute avec une excellente qualité d'image. Le logiciel ACCRETECH WIN WIN 50 permet d'évaluer avec précision les caractéristiques des motifs, les défauts et les informations de position des défauts avec des algorithmes d'analyse automatique d'image. En outre, le modèle peut supporter des opérations à la fois manuelles et automatiques pour divers matériaux de substrat tels que le verre, le silicium, le métal et les cristaux. WIN WIN 50 est idéal pour une large gamme d'applications dans la production de semi-conducteurs, y compris l'inspection de surface, l'inspection des défauts liés au masque LCD, l'inspection des motifs et l'inspection des motifs de panneaux de fil. Il est également équipé d'une interface utilisateur intuitive, et ses fonctions de fonctionnement et de maintenance faciles à utiliser permettent une inspection efficace des masques et des plaquettes. En résumé, ACCRETECH Win-Win 50 est un équipement innovant et fiable d'inspection des masques et plaquettes. Son système de projection par imagerie directe et sa capacité avancée de balayage à grande vitesse offrent une excellente qualité d'image et des performances excellentes pour une variété de matériaux de substrat. En outre, son logiciel polyvalent et son interface utilisateur intuitive le rendent adapté à une large gamme d'applications de production de semi-conducteurs.