Occasion ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3000 #9383425 à vendre en France

LES SYSTÈMES DE MÉTROLOGIE AVANCÉE (AMS) LES SYSTÈMES DE MÉTROLOGIE AVANCÉE (AMS) IR3000 sont un équipement d'inspection de masque et de plaquettes de pointe conçu pour la mesure et l'analyse de haute précision des films minces, des métaux, des isolants et d'autres matériaux de substrat utilisés dans les industries semi-conductrices et connexes. IR3000 fournit à la fois des mesures de contact et des mesures sans contact de couches épaisses ou minces et peut fournir des mesures pour divers types de géométries, y compris des formes rondes et oblongues. SYSTÈMES AVANCÉS DE MÉTROLOGIE (AMS) IR3000 dispose d'un système intégré automatisé de traitement des plaquettes et des spécimens avec un microscope haute résolution et une unité de contrôle des processus fournissant un processus d'inspection entièrement automatisé. Son interface logicielle simplifiée prend en charge les opérations manuelles et automatisées et comprend des fonctions opérationnelles telles que l'étalonnage, l'acquisition de données, l'analyse de données et l'établissement de rapports. IR3000 offre également un large éventail de capacités de mesure automatisées, y compris des mesures optiques d'épaisseur, de réflectivité, de résistivité et d'erreurs de front d'onde. L'AMS ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3000 est équipé d'une optique autofocus de haute précision offrant des mesures précises jusqu'à 6 particules par μ m de dimensions. L'unité est capable de mesurer la plus petite des caractéristiques avec précision et de façon répétée. Sa machine optique sophistiquée offre également de puissantes capacités d'analyse pour mesurer des caractéristiques localisées telles que des discrets et des vias. IR3000 intègre un outil d'imagerie laser de haute puissance qui peut détecter et des défauts d'image d'une gamme de matériaux de 140nm et plus. Ses capacités d'imagerie avancées permettent aux utilisateurs de zoomer sur des images de structures atomiques vivantes (ou en temps réel) fournissant des détails sans précédent à l'échelle microscopique. SYSTÈMES AVANCÉS DE MÉTROLOGIE (AMS) IR3000 est conçu pour fournir des performances uniformes et cohérentes dans des environnements propres et contaminés. Sa conception robuste offre des performances supérieures dans des conditions environnementales difficiles et garantit des résultats de la plus haute qualité dans tous les essais. Ses capacités de métrologie dynamique comprennent la capacité de mesurer et de quantifier le désalignement, la topographie bien proportionnée et les mesures de profil avec une extrême précision. En tant qu'outil polyvalent et fiable, l'AMS IR3000 est un choix idéal pour les laboratoires, les instituts de R&D et les entreprises qui exigent des mesures précises et répétables dans la recherche et la production de composants et de dispositifs microélectroniques. En fournissant des mesures de haute précision d'une variété de matériaux et la capacité d'analyser complètement les caractéristiques microscopiques, ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3000 est un excellent choix pour l'analyse rigoureuse et le contrôle de la qualité des composants semi-conducteurs.