Occasion ALLTEQ LFI 3000 #9028592 à vendre en France

ALLTEQ LFI 3000
ID: 9028592
Frame Inspection system.
ALLTEQ LFI 3000 est un équipement de nouvelle génération d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour fournir une inspection et une analyse des défauts haute résolution en temps réel. Ce système est optimisé pour des performances maximales, offrant aux utilisateurs un débit maximum et une détection rapide des défauts. Pour garantir la plus haute résolution et l'exactitude, l'unité est équipée avec les détecteurs CMOS reflétants de deux dimensions, une machine de détection d'objet source de grande puissance de 4 lasers et un outil optique optimisé. Cela fournit aux utilisateurs une analyse facile et précise des wafer et des fonctionnalités de masque. LFI 3000 a un balayage de grande surface allant jusqu'à 1,5 cm ² et peut couvrir une surface allant jusqu'à 6 cm ² à une résolution allant jusqu'à 16 µm jusqu'à 128x512 résolution. Cet atout comprend également une mesure de motifs haute densité, un calcul robuste d'orientation de motifs, une vitesse de commutation élevée pour l'analyse de défauts de haute précision, et une large gamme de détections de défauts, y compris les particules et les rayures. Le modèle peut être facilement personnalisé et intégré, permettant une installation et une configuration simples. Il comprend également un logiciel intuitif pour la navigation facile et l'expérience utilisateur. L'interface graphique intuitive permet une inspection et une analyse rapides des résultats sans défaut. En outre, l'équipement offre un certain nombre de capacités intégrées, telles que le stockage de données, des fonctions d'analyse avancée et d'exportation de données, un système automatisé d'inspection post-analyse des défauts, et une unité de suivi des modèles de défauts. Cela permet aux utilisateurs d'analyser les défauts, d'isoler rapidement les zones problématiques et de fournir des solutions fiables pour les réparations ou la réduction des défauts. ALLTEQ LFI 3000 est un outil puissant pour inspecter et déboguer les wafer et les masques, optimiser la détection des défauts, et rendre l'identification précise des défauts et les solutions plus efficaces. Cette machine est la solution idéale pour les utilisateurs à la recherche de masques avancés et des capacités d'inspection des plaquettes.
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