Occasion ALLTEQ LFI 3010 #9028586 à vendre en France

ALLTEQ LFI 3010 Mask & Wafer Inspection Equipment est une plate-forme automatisée, de haute précision, sans contact, d'inspection tridimensionnelle et de métrologie conçue pour les fabricants de semi-conducteurs ou pour d'autres industries nécessitant des capacités d'inspection des défauts. Il utilise l'interférométrie laser sur une surface de plaque de silicium pour détecter, analyser et mesurer avec précision les matériaux étrangers, les imperfections et autres anomalies. Le système comprend un étage multi-axes, un interféromètre laser, une caméra, des moniteurs pour se connecter à un ordinateur, une source laser et un logiciel de contrôle automatisé. L'étage est conçu pour tourner autour d'un échantillon, permettant au faisceau laser de tracer le profil de surface de la plaquette. L'interféromètre laser mesure le profil de surface en trois dimensions pour une précision de 1nm. Un appareil photo numérique monochrome prend des images d'objets réfléchissants et d'ombres à la surface de la plaquette. Une source laser éclaire les motifs du masque sur la plaquette pour détecter les défauts de 3 nanomètres. L'unité logicielle est programmée pour identifier et détecter des défauts aussi petits que 3 nanomètres et des écarts dans le profil de surface. Il peut détecter un large éventail de matières étrangères telles que la poussière, les rayures, la contamination et d'autres non-uniformités. La machine peut être programmée pour scanner une plaquette entière, détecter le défaut, le caractériser, le mesurer en 3D, et le classer en fonction de la gravité. Une fois le défaut identifié, il sera classé en fonction de la gravité et une image 3D sera générée. LFI 3010 est conçu pour être convivial et facile à utiliser. Il est équipé d'une interface graphique pratique qui permet à l'utilisateur de surveiller l'outil de vision automatisée et d'accéder à ses fonctions. Le fonctionnement automatisé de l'actif permet à l'utilisateur de saisir, analyser et évaluer rapidement les défauts sur la plaquette. ALLTEQ LFI 3010 est idéal pour les entreprises de semi-conducteurs ou toute autre industrie nécessitant la détection et l'analyse de défauts et d'imperfections. C'est un outil précieux pour le contrôle de la qualité, la résolution rapide des problèmes et le développement de produits. Ses capacités d'inspection et de métrologie tridimensionnelles ultra-précises et sans contact font de LFI 3010 une solution rentable et efficace pour la mesure et la détection des défauts critiques et des imperfections.