Occasion ALLTEQ LFI 3010 #9266249 à vendre en France

ALLTEQ LFI 3010 est une solution polyvalente d'inspection automatisée des masques et plaquettes conçue pour améliorer l'assurance qualité pour la fabrication de semi-conducteurs. Avec son équipement de métrologie optique de pointe, LFI 3010 détecte non seulement les défauts sur un large éventail de substrats, mais mesure également les structures critiques sur le masque lui-même. Le système utilise des techniques avancées de traitement d'image et de mosaïque pour créer un champ de vision complet continu sans couture ni répétition. Ceci permet un balayage unique de toute la couche ou du champ pour la détection, la mesure et la caractérisation rapides et précises des défauts. ALLTEQ LFI 3010 dispose également d'une combinaison unique de capacités de microrésolution et d'imagerie macroresolution. Au niveau microéconomique, l'unité utilise des images rétrodiffusées avancées pour identifier et mesurer les défauts de sous-couche et les structures critiques sur les structures à grains fins. Au niveau macroéconomique, une combinaison d'images de contraste et de rétrodiffusion est utilisée pour identifier et mesurer des défauts de surface, tels que des trous d'épingle, sur un large éventail de substrats. De plus, la machine est équipée d'un processus de classification des défauts entièrement automatisé pour identifier rapidement et avec précision les types de défauts, leur taille, leur forme et d'autres caractéristiques. Cela peut être utilisé pour déclencher une méthode appropriée d'analyse des défaillances pour identifier et résoudre les problèmes dans la chaîne de production. Dans l'ensemble, le LFI 3010 est un outil efficace et fiable d'inspection des masques et plaquettes avec une gamme impressionnante de capacités. Grâce à ses algorithmes avancés d'imagerie et de classification des défauts, l'actif est capable de détecter et de mesurer un large éventail de défauts et de défauts avec facilité. En outre, son processus automatisé de classification des défauts simplifie et rationalise le processus d'analyse des défauts, ce qui accroît l'efficacité des lignes de production.