Occasion AMAT AERA II #293621241 à vendre en France

AMAT AERA II est un équipement d'inspection Masque et Wafer conçu pour inspecter les masques, plaquettes et composants utilisés dans les opérations de fabrication de semi-conducteurs. Ce système permet de détecter les défauts et de réduire le coût des pertes de rendement liées aux structures imprimées sur plaquettes semi-conductrices. AERA II permet de collecter et d'analyser les images des masques et des plaquettes pour optimiser le rendement et la qualité des plaquettes. AMAT AERA II est un outil d'échantillonnage de haute précision qui prélève et inspecte des centaines de variations sur les masques et les plaquettes. L'unité comprend une variété de capteurs et d'optiques, y compris des caméras numériques, des caméras stroboscopiques, des capteurs spectroscopiques, des interféromètres laser et des systèmes de traitement d'images numériques. Il dispose également d'une machine d'affichage sophistiquée et peut visualiser les masques à plat et à angle simultanément, permettant une inspection plus rapide et plus précise des motifs de masque. L'AERA II peut inspecter tous les types d'aberration avec des résolutions allant jusqu'à 1,8 micron et une sensibilité jusqu'à 0,2 micron. Il a une capacité d'inspection descendante avec des angles allant jusqu'à 85 degrés et peut fournir des données pour identifier les zones les plus susceptibles d'avoir des défauts. L'outil dispose également d'une large gamme d'optiques, allant de 5mm à 40mm de diamètre, ce qui donne à l'utilisateur une large gamme de champ de vision et de grossissement. AMAT AERA II permet aux utilisateurs de personnaliser les paramètres d'inspection du masque à leur application particulière. Cela inclut des caractéristiques telles que le jugement de masque de motif, la classification des défauts, l'analyse binaire et l'appariement de motif. L'actif dispose également d'un modèle d'analyse automatique des défauts qui peut détecter plusieurs types de défauts tels que la surexposition, la sous-exposition, les taches sombres, les stries et la dégradation. Une des caractéristiques clés de l'AERA II est sa performance à grande vitesse. Il peut inspecter des plaquettes et des masques à raison de plusieurs centaines de plaquettes par minute. Cela permet d'obtenir des résultats d'inspection rapides et précis, garantissant des rendements élevés et un bon rapport coût-efficacité pour les fabricants de semi-conducteurs. AMAT AERA II est un outil inestimable pour l'industrie des semi-conducteurs. Ses capteurs et optiques sophistiqués lui permettent d'identifier rapidement et précisément les défauts, et ses réglages personnalisables permettent aux utilisateurs d'adapter le processus d'inspection du masque à leur application particulière. Ses performances à grande vitesse permettent de minimiser les coûts de production et d'améliorer les rendements. En bref, l'AERA II est un outil essentiel pour tout fabricant de semi-conducteurs.