Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS 0020-1412 #9361620 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS 0020-1412 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour identifier rapidement et avec précision les défauts sur les photomasques et les plaquettes à semi-conducteur. Le système intègre des logiciels d'imagerie optique haute résolution et d'analyse d'image automatisée avancée pour détecter et caractériser les défauts. Il est capable d'inspecter jusqu'à 30 plaquettes par heure et peut détecter des défauts aussi petits que 1 micron. L'unité se compose de quatre composants : la source lumineuse, la tête d'inspection optique, l'étage de masque ou de plaquette, et le logiciel d'analyse d'image. La source lumineuse émet un éclairage diffus réglable pour différentes conditions de contrôle. La tête optique se compose d'un microscope à longue distance de travail, d'une caméra haute résolution et d'une machine à lentille qui permet un champ de vision très large et des capacités de grossissement élevé. L'étage de masque ou de plaquette est conçu avec un outil de balayage XY motorisé de précision, qui permet un balayage très précis et haute résolution de l'échantillon. Enfin, le logiciel d'analyse d'image consiste en des algorithmes de détection et de caractérisation de défauts qui sont programmés pour détecter et classer les défauts. Ce logiciel est capable d'analyser les images et de fournir un rapport détaillé des défauts qu'il trouve. Il peut également effectuer plusieurs tâches d'analyse telles que l'analyse quantitative, la cartographie des défauts de localisation, la double indexation et la taille des fonctionnalités de calcul. L'atout est également fourni avec une interface utilisateur graphique (interface graphique) qui est conçu pour fournir aux utilisateurs un contrôle facile sur les paramètres et les paramètres du modèle. L'interface graphique permet également aux utilisateurs de revoir les données et les images acquises par l'équipement. Dans l'ensemble, AMAT 0020-1412 est un système puissant et avancé d'inspection des masques et des plaquettes qui combine une imagerie haute résolution, un balayage motorisé précis et des algorithmes logiciels avancés pour détecter rapidement et avec précision les défauts sur les photos et les plaquettes des semi-conducteurs. L'unité est facile à utiliser et peut aider à améliorer les rendements de production et à réduire les coûts.