Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Aera II #293811322 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS Aera II
ID: 293811322
Mask inspection system.
AMAT/APPLIED MATERIALS Aera II est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour détecter les défauts sur les produits semi-conducteurs avancés tels que les masques et les plaquettes. Le système combine le traitement avancé de l'image, l'inspection automatisée et les outils de métrologie pour identifier et évaluer rapidement la gravité des défauts de fabrication. L'unité est équipée d'une gamme d'outils d'inspection de masque et de plaquettes standard de l'industrie, y compris les champs lumineux, les champs noirs et la microscopie spéculaire, ainsi que les systèmes d'inspection des électrons, des optiques et des faisceaux d'ions. AMAT Aera II est capable de détecter des défauts de taille aussi petite que 1nm et a un débit incroyablement rapide, capable de scanner des millions de pixels en quelques secondes. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Aera II a une architecture de machine très efficace avec une interface utilisateur moderne qui permet aux opérateurs d'examiner rapidement et avec précision les masques et les plaquettes pour détecter les défauts. Le logiciel intuitif, ainsi que des capacités complètes d'enregistrement des données, permet de détecter et d'analyser facilement une grande variété de défauts et de traces de particules étrangères, telles que des particules métalliques ou organiques, des raccourcis électriques et des désalignements de grille. En outre, cet outil offre également des capacités avancées d'enregistrement spatial pour assurer la répétabilité et la précision des mesures. Aera II est également équipé de plusieurs caractéristiques uniques pour maximiser l'efficacité. Il s'agit notamment d'une tête de balayage multi-champs, qui permet d'inspecter plusieurs cibles simultanément ; les capacités de lancement et de transition automatisées des séquences d'essai, qui minimisent l'entrée manuelle ; et un module complet de communication des données pour une exploitation et une analyse efficaces des données. MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS La conception et les caractéristiques puissantes d'Aera II en font un masque fiable et hautement capable d'inspection des plaquettes. Il peut détecter le plus petit des défauts, traiter et rendre compte des résultats rapidement, et fournir une plate-forme avancée pour le contrôle de la qualité dans la fabrication de semi-conducteurs. Ce modèle permet de maintenir les niveaux de précision et de rendement les plus élevés tout en respectant les normes de l'industrie.
Il n'y a pas encore de critiques