Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Compass 200 #293765220 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS Compass 200 Mask & Wafer Inspection Equipment est un outil compact et innovant conçu pour améliorer les performances des procédés de fabrication de semi-conducteurs. Ce système utilise une technologie d'imagerie avancée pour détecter les défauts de métallisation, les matériaux structurés et d'autres légères variations au sein d'une surface de plaquette donnée. AMAT Compass 200 Mask & Wafer Inspection Unit utilise une machine d'imagerie qui intègre la dernière technologie de capteur 3D, l'optique numérique, les caméras haute résolution et les algorithmes d'imagerie rapide. Cette technologie d'imagerie de pointe permet le balayage et l'analyse d'images multiples sur la plaquette, détectant rapidement même les défauts les plus subtils. Chaque composant est capable de détecter facilement des défauts de 0,3 µm avec une rugosité de surface variant de 0,9 µm à 5 µm. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Compass 200 Masque et Wafer Inspection Tool comprend une large gamme de fonctions puissantes pour aider à la détection des défauts subtils et extrêmes. Cela comprend la capacité de détecter des erreurs de métrologie, de larges variations de substrat et de légères variations de largeur de ligne. La gamme complète de types de défauts qui peuvent être détectés comprennent les coins, les petits points, et les formes de trou d'épingle. Cet atout est particulièrement adapté au conditionnement à l'échelle des puces du fait de sa capacité à identifier sans effort les défauts sur la surface des puces qui sont inférieurs à la taille du dispositif. Ce modèle est également disponible avec un large éventail de fonctionnalités et de capacités, y compris l'alignement automatisé, un équipement avancé de cartographie des plaquettes, et des logiciels d'imagerie spécialisés. En outre, il offre un design ergonomique, une composition légère et compacte, et un contrôleur de processus amélioré. Compass 200 Mask & Wafer Inspection System est une unité de détection et d'analyse des défauts avancée, mais rentable, qui améliore considérablement la performance des processus semi-conducteurs. Grâce à ses capacités de balayage rapide et à son vaste éventail de fonctionnalités de développement, cette machine est idéale pour la production d'emballages évolués à l'échelle des puces.