Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Compass Pro 300 #9220617 à vendre en France

AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS Compass Pro 300 Masque et Wafer Inspection est un système de haute précision sans contact conçu pour fournir une analyse rapide, précise, répétable et peu coûteuse des surfaces de masque et de wafer. L'unité fournit des informations détaillées sur les surfaces avant et arrière d'un masque ou d'une plaquette, permettant des rendements élevés et un contrôle efficace du processus. La machine est composée d'un étage de numérisation x-y motorisé, d'un détecteur d'imagerie numérique et d'un outil d'optique intégré, qui travaillent ensemble pour obtenir une résolution et un débit d'inspection optimaux. L'étape de balayage est pilotée par un moteur pas à pas de précision, qui fournit une précision exceptionnelle et une taille de pas faible pour l'analyse détaillée des caractéristiques de surface. Le détecteur d'imagerie numérique fournit des images haute résolution et permet la sélection et la comparaison de différentes zones d'un masque ou d'une plaquette pour une corrélation plus poussée avec d'autres techniques d'analyse. Il dispose également de puissantes capacités d'étalonnage et d'alignement. L'actif optique intégré garantit que la source lumineuse est captée, transportée et livrée au détecteur d'imagerie rapidement et précisément pour une capture d'image complète. En plus de fournir une analyse détaillée de la surface, le modèle permet également de détecter les caractéristiques et les défauts. Il dispose d'algorithmes avancés pour détecter les distorsions de motifs, les défauts, les contaminants et d'autres caractéristiques d'intérêt. Il comprend également une source lumineuse de décélération pour améliorer les performances à des débits plus élevés. L'équipement AMAT Compass Pro 300 Masque et Wafer Inspection est un outil puissant pour l'analyse complète du masque et du wafer. Il aide à obtenir des rendements élevés et permet aux utilisateurs de rester en avance sur la concurrence. Sa précision et sa répétabilité en font le choix idéal pour le contrôle de qualité dans les procédés avancés de lithographie et de semi-conducteurs.