Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Compass Pro 300 #9235264 à vendre en France

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ID: 9235264
Patterned wafer inspection system Sun UltraSparc (10) Unix workstations (RAM: 1GB, 40 GB) HD With spare SCSI card and 20/40 GB tape drive 1140-A0291W / J20-8S-12K-24 1140-A0291W / J20-8S-12K-23 Spectra-physics 0412-0515 US / 0135-0968 Rev B ASYST C0094-0948-01 ASYST 6900-1551-01 FI computer SmartPlus 1.83 100395-0311/00 Rev C / Cable X-axis motor encoder hall SKU-G7-K-2317-1 Master IP computer 1951608 / IP1 Genesis camera interface cable 1951363 / 740-26817-AD IP1/ADC1, 0090-A0780 ACS DR14 Rev B2 Compass 300 X-Axis driver PCB 370-1586-03 / NESUN1 Sun compact mouse Cooling fan sparcstation: 12 V ANORAD Commutation x,y sq box Rocketport interface bd in FI computer ASYST IsoPort, 300 mm (LP B) ASYST 2200 LP with MOCA (200 mm) Video card in Sun Sparcstation (2) computers Aligner and stage to FA blade Light from SP laser head: 532 nm Light laser diode: 808 nm LP Cassette ID (Port A and Port B) communications Rocket port interface board Back-up tapes and sun solaris Sparcstation (2) PC OLYMPUS Microscope with white light lamp, 50 W 4610 HLX, 50 W, 12 V SP Laser head: 532 nm (light) Ultra-Sparc (10) unix workstation RAM: 1 GB (HD: 40 GB) Laser detectors: 1.1 W, 28.5 A / 16.5 Degree Cd Laser output: 2.4 W, 31.92 A / 16.42°C Laser diode (current very high) Laser head and diode testing Rocketport breakout box has been replaced (4) FFU Fans 6900-1551-01 SmartPlus 1.54, Patch 1, OS NT4.0, SP 6 Compass 300 X-Axis motor hall encoder cable, 25" Master IP computer Compass 300 Dark field detector With IP1 Computer cable and (2) detectors EDR PMT Detector assy X-Axis driver board Sun compact mouse with live host tool Does not include camera IP1 interface cable.
AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS Le Compass Pro 300 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour aider à travailler dans l'industrie des semi-conducteurs. Ce système permet l'examen en métrologie profonde et l'imagerie des structures sur masques et plaquettes. Le logiciel de contrôle de cette unité, Comprehensive Wafer Inspection (CWI), permet à l'utilisateur d'inspecter à la fois les plaquettes imprimées et non brevetées et de les inspecter à fond grâce à une plate-forme complète de métrologie et d'imagerie. La machine est composée de deux composants intégrés qui sont la console de l'outil et sa station d'imagerie. La console abrite les étages motorisés de l'actif qui contrôlent la position de l'échantillon et fournissent, le vide, l'air comprimé et d'autres gaz nécessaires. Ce composant contient également les éléments de sondes et d'imagerie du modèle pour des mesures précises et l'imagerie. La station d'imagerie contient une caméra CCD haute résolution (Charge-Coupled Device) qui est utilisée pour capturer et qualifier des structures ou des caractéristiques sur des surfaces de spécimen. L'équipement est conçu pour utiliser des techniques optiques pour examiner les formes et les motifs des semi-conducteurs au moyen de mesures et de capacités d'imagerie. Il peut être utilisé pour identifier les désalignements et les variations de dimensions critiques sur l'ensemble de l'échantillon ainsi que pour détecter les défauts. Il peut également exécuter des algorithmes de focalisation des sources lumineuses (LSFA) afin d'analyser des images de plaquettes. La topographie de l'échantillon et de ses structures peut être mesurée par le système à l'aide d'une combinaison d'optique et d'interférométrie laser qui crée un micrographe 3D de la surface de l'échantillon afin de visualiser les microstructures. Les capteurs et détecteurs de l'unité aident à identifier, confirmer et analyser les défauts indésirables sur l'échantillon. La machine est également équipée d'outils spécialisés pour l'analyse automatisée des pannes et le suivi des réparations. AMAT Compass Pro 300 est un outil puissant qui fournit des résultats fiables, précis et reproductibles pour l'inspection des masques et des plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs. Son logiciel de contrôle avancé et ses capacités d'inspection complètes en font un excellent outil d'assurance de la qualité et de contrôle de la production. Sa taille compacte et sa facilité d'utilisation le rendent bien adapté à la plupart des laboratoires et des installations de production.
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