Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Complus 3 #9353217 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS Complus 3
ID: 9353217
Darkfield inspection system.
AMAT/APPLIED MATERIALS Complus 3 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour la production de semi-conducteurs. C'est un système complet pour l'inspection et la mesure des masques et plaquettes IC avant les puces à fabriquer. L'unité comprend un poste d'inspection des plaquettes, une machine d'alignement, un sous-système et un ordinateur hôte pour le traitement, l'analyse et la production de rapports. L'outil dispose d'un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) pour l'imagerie haute résolution des surfaces du masque et de la plaquette. Il est utilisé pour créer des images 2D et 3D de masques et plaquettes IC. L'actif utilise une combinaison d'outils automatiques et manuels pour inspecter les défauts physiques et les caractéristiques non visuelles des surfaces de masque et de plaquette. Le poste d'inspection balaye la surface de chaque plaquette et capture des images 3D haute résolution. Cela permet une évaluation précise de toutes les imperfections de surface, telles que les défauts de masque, les désalignements, et d'autres défauts. Le modèle d'alignement comporte un étage motorisé automatisé qui aligne la plaquette sur un port de vue d'échantillon pour une inspection précise. Le sous-système dispose d'une gamme de capacités comprenant la comparaison d'images à haute résolution, la correction avancée de l'ombre et des algorithmes non visuels d'inspection des défauts. Grâce à des algorithmes avancés d'analyse d'image, l'équipement est capable de détecter, signaler et catégoriser les défauts de surface. Il peut être utilisé pour la classification automatisée et la cote de gravité des défauts, ainsi que pour l'évaluation manuelle de la taille, de la forme et de la nature du défaut. En outre, le système offre des capacités de rapport avancées avec la capacité de stocker et d'analyser les résultats dans une base de données sécurisée. L'unité dispose également d'une gamme de fonctions automatisées, telles que les mouvements automatisés des étages, le contrôle de l'intensité lumineuse, le mode de recherche automatisé, l'exportation d'images et les résultats des tests vers des endroits externes. Cela permet d'augmenter le débit et d'améliorer la fiabilité lors de l'inspection des substrats de masque et de plaquette. Dans l'ensemble, AMAT Complus 3 est une puissante et complète machine d'inspection de masque et de plaquettes pour la production de semi-conducteurs. Ses capacités d'imagerie haute résolution, ses outils automatisés et ses fonctions d'analyse de données avancées en font un outil efficace pour surveiller la qualité des masques et plaquettes d'IC avant de pouvoir être fabriqués en puces.
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