Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS Complus #293704394 à vendre en France

AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS Complus est un équipement « masque & wafer inspection » qui est utilisé pour la fabrication de semi-conducteurs. Il aide au processus de détection des défauts en fournissant une évaluation complète des dégradations de la qualité du masque ou de la plaquette. Ce système comprend l'inspection des masques pour détecter des défauts tels que l'enregistrement, le marquage, l'impression et d'autres types de défaillances connexes. Il peut également vérifier les défauts de surface, les particules et les contaminants étrangers sur les plaquettes, ainsi que l'échelle, la forme et l'épaisseur. L'unité se compose de trois composants principaux : une machine d'inspection, un outil d'adaptation des motifs et un outil de détection des défauts. Le modèle d'inspection comprend deux caméras qui peuvent acquérir des images d'échantillons de plaquettes et peuvent être ajustées en termes de résolution de pixels. En outre, il se compose d'un microscope numérique USB zoom pour observer plus en détail les défauts de l'échantillon. L'équipement d'adaptation de motifs peut détecter de fines variations de forme et de taille et peut détecter des défauts avec une très grande précision. Le système de détection des défauts peut détecter un large éventail de défauts, tels que l'impression, l'enregistrement, les rayures, les particules et les contaminants étrangers. L'unité peut être reliée à un ordinateur via un câble USB, et peut être préprogrammée avec une variété de conditions d'inspection selon le type d'échantillon à inspecter. Le processus d'inspection est amorcé en plaçant l'échantillon sur la scène, en positionnant la caméra dans la position requise et en choisissant les conditions d'inspection souhaitées. Le logiciel analyse ensuite l'échantillon et acquiert des données d'image à partir de la plaquette ou du masque, et y fait référence avec les conditions préétablies. Si des défauts sont détectés, le logiciel alertera l'utilisateur. En outre, la machine a la possibilité de transmettre des données à d'autres systèmes, tels que les logiciels de CAO, ou même aux autres PC connectés à l'outil. Cela permet aux utilisateurs de partager les résultats d'inspection et de simplifier le processus de détection des défauts. AMAT Complus offre un ensemble complet d'outils pour aider à détecter et analyser les défauts sur les masques et les plaquettes. Il est fiable, facile à utiliser et économique. En outre, il est idéal pour des applications dans la fabrication de semi-conducteurs, et son ensemble complet d'outils en font un excellent choix pour la détection de défauts sur les masques et les plaquettes.