Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720 #9293621 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 720 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes utilisé pour la fabrication de semi-conducteurs. Il fournit un système d'imagerie haute résolution qui fonctionne sur une combinaison unique de principes de vision par ordinateur, y compris divers modes d'éclairage, et algorithmes avancés de traitement d'image. En tant qu'unité unique, il comprend une plate-forme de microscope/caméra entièrement motorisée et contrôlée par ordinateur, un logiciel d'interface graphique convivial et un puissant logiciel d'analyse et d'inspection d'images. AMAT WF 720 offre une combinaison unique de détection de défaut de masque sans gravure et une surveillance fiable de la topographie des plaquettes. Il offre une solution complète pour l'assemblage de plaquettes semi-conductrices, avec des combinaisons d'imagerie et de mesure en temps réel. Tout cela se produit dans un cadre d'acquisition de signal, qui permet l'alignement automatique, la focalisation et la sélection de la meilleure méthode de traitement image/image pour une application donnée. La machine supporte une grande variété d'objectifs de microscope populaires et de lentilles de caméra, avec réglage automatique de la focale. Une fois la plaquette placée et le masque et la plaquette inspectés, ORBOT WF 720 fournit un outil de contrôle automatisé qui optimise les paramètres d'imagerie pour la meilleure qualité d'image. Ces paramètres comprennent l'éclairage, les paramètres d'exposition et l'agrandissement de l'imagerie. Il comprend également un atout pour la localisation et la caractérisation précises des défauts. En fournissant l'analyse nécessaire pour la fabrication avancée d'IC et de MEMS, le modèle fournit un outil puissant pour les corrections et la vérification de plusieurs types d'appareils. Pour des besoins spécifiques à l'application, le masque et l'équipement d'inspection des plaquettes comprennent un grand nombre d'options spécifiques à l'application. Parmi celles-ci, mentionnons la capacité de visualiser et de détecter simultanément les défauts sur un moniteur à double vue, la projection améliorée sur des surfaces planes, la mesure sur des échantillons de nanotubes de parylène et de carbone et la manipulation de l'interface microscopique. Dans l'ensemble, les matériaux appliqués WF 720 offrent une plate-forme complète et fiable pour l'industrie moderne des semi-conducteurs. Grâce à sa plate-forme flexible et à sa multitude de fonctionnalités, il est capable d'imager, de mesurer et d'inspecter avec une très grande précision. Ce système est un grand atout pour toute industrie qui nécessite des mesures à haut débit et sensibles.