Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720 #9391938 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720
ID: 9391938
Wafer inspection system.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 720 est un masque haute performance et un équipement d'inspection de plaquettes qui est optimisé pour la fabrication de semi-conducteurs et le développement de composants microélectroniques. Ce système est conçu pour assurer l'assurance de la qualité des circuits complexes, ainsi qu'une large gamme de graphiques. Grâce à des technologies avancées d'imagerie et d'analyse telles que l'interférométrie laser et l'aberration chromatique, cette unité offre des performances de détection de défauts supérieures et des débits plus élevés que les autres systèmes sur le marché. L'AMAT WF 720 est équipé d'une caméra haute résolution et d'un illuminateur permettant une inspection optique des caractéristiques du masque et de la plaquette avec un degré élevé de précision. Cette machine comprend également un interféromètre laser pour améliorer la détection de topologie de surface, ainsi qu'une technologie intégrée d'aberration chromatique pour détecter les différences subtiles dans les formes de caractéristiques. En outre, cet outil fournit la reconstruction de surface 3D embarquée pour garantir les images de la plus haute qualité. ORBOT WF 720 est contrôlé par une interface utilisateur graphique (GUI), offrant aux utilisateurs une gestion et une navigation faciles de leurs processus d'inspection. L'actif comprend également une gamme d'outils d'analyse et de rétroaction, ainsi qu'une interface Web pour l'accès à distance et la surveillance. Cette surveillance permet la collecte de données en temps réel, ce qui facilite le suivi de la qualité globale du produit. MATÉRIAUX APPLIQUÉS Le WF 720 est la solution d'inspection idéale pour les circuits complexes, car il est doté d'un modèle de vision intégré, d'une large gamme de capacités de détection et d'une inspection rapide des défauts. Il est capable de scanner jusqu'à 500 plaquettes par heure avec une résolution de 50 nanomètres, permettant une détection plus rapide des défauts et une précision améliorée. En outre, cet équipement est entièrement intégré au logiciel SEMVision Inspection Control Manager (SICM), permettant une surveillance et un suivi faciles du processus de production des semi-conducteurs. WF 720 est une solution idéale pour les fabricants de semi-conducteurs et les développeurs de composants microélectroniques qui doivent maintenir des normes de haute qualité tout en respectant des délais de production serrés. Grâce à ses capacités d'imagerie et d'analyse sophistiquées, ce système combine vitesse, précision et interface utilisateur intuitive, permettant aux utilisateurs de détecter et de corriger rapidement tout défaut potentiel.
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