Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 736 DUO #293730901 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 736 DUO est un équipement d'inspection de masque et de plaquette de haute précision conçu pour permettre une automatisation efficace et des mesures de haute précision pour les lignes de production avancées de semi-conducteurs. Le système se compose de deux modules distincts ; le Groupe d'inspection des sites doubles du WF 736 et le scanner comparatif du WF 736. La machine est destinée à l'inspection du niveau le plus élevé de dispositifs semi-conducteurs et microélectroniques, tels que masques optiques, DRAM, photomasques, et composants micro-électroniques, tels que tranches de plaquettes de silicium, puces SOG et substrats BGA. Le WF 736 Dual Site Inspection Tool est équipé de deux microscopes optiques rapides pour l'inspection des masques et des plaquettes, un pour le haut et un pour le bas. Les deux microscopes optiques offrent les plus hautes performances optiques et de contrôle offrant aux utilisateurs une imagerie haute vitesse et une précision accrue des données. L'actif est capable de produire des images de la plus haute résolution et de permettre une mesure précise avec une vitesse maximale de rafraîchissement de l'image de 30 images par seconde. Le scanner comparatif WF 736 est conçu pour permettre la comparaison et la vérification à grande vitesse des données entre les images d'inspection des masques et des plaquettes. Il est équipé d'un puissant laser néon, permettant une précision supérieure et une comparaison d'image en vrac sans alignement manuel requis. Le scanner permet une comparaison facile entre deux plaquettes ou masques différents ; il est capable de lire des images, de créer et de comparer des masques et des plaquettes en un seul balayage. Les deux modules de l'AMAT WF 736 DUO offrent des fonctionnalités avancées pour l'inspection et l'essai d'appareils de haute précision. Le modèle d'inspection du site double assure une haute précision, une imagerie à faible bruit et une précision de mesure des pixels fractionnaires sur l'épaisseur critique du film et les caractéristiques des bords du motif. Il offre plusieurs modes de mesure pour établir des conditions d'imagerie idéales. Le scanner de comparaison dispose d'imagerie haute vitesse et de fonctionnement laser double pour une précision accrue des données dans la comparaison des masques et des plaquettes. Ses caractéristiques avancées permettent des performances supérieures même dans les environnements de salle blanche les plus difficiles. ORBOT WF 736 DUO est un équipement flexible et fiable pour l'inspection et l'essai des semi-conducteurs de haute qualité. Avec l'imagerie haute vitesse, l'imagerie haute résolution et la comparaison de données de précision supérieure, c'est la solution idéale pour répondre aux exigences les plus élevées de l'industrie des semi-conducteurs. La combinaison des deux modules en un seul système garantit des performances et une précision inégalées, permettant aux utilisateurs de produire des dispositifs semi-conducteurs supérieurs avec facilité et confiance.