Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF-736 XS DUO #293617607 à vendre en France

ID: 293617607
Style Vintage: 2001
Patterned wafer inspection system 2001 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF-736 XS DUO est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour fournir des performances supérieures et un fonctionnement intuitif. Le système offre une gamme de fonctionnalités avancées, y compris l'alignement automatisé des plaquettes, la capture et l'analyse d'images haute résolution, l'identification et la classification automatisées des défauts, et la capacité d'inspecter l'ensemble de la plaquette dans un seul champ de vision. AMAT WF-736 XS DUO est équipé d'un nouveau module d'acquisition d'images à double faisceau qui utilise des modes d'imagerie optique et électronique pour assurer une capture de données optimisée pour divers types et fonctionnalités de substrat. L'unité est intégrée avec un scanner de ligne numérique plein champ haute résolution pour produire des images de champ lumineux et de champ sombre jusqu'à 120Mpixel. En outre, la machine offre diverses fonctions automatisées telles que la reconnaissance intelligente des défauts par leur profil 3D, la détection précise des fonctionnalités, et la classification automatisée des défauts. L'outil est alimenté par les dernières technologies d'imagerie et de traitement d'images. Il intègre un actif intégré de traitement et d'analyse d'images qui offre des algorithmes avancés de filtrage d'images et d'analyse statistique pour classer, mesurer et catégoriser les défauts. Le modèle est également équipé d'un Digital Bright Field Imaging Equipment qui fournit des images de contraste élevé qui peuvent être utilisées pour détecter de petits défauts sur des structures et des mises en page complexes. ORBOT WF-736 XS DUO dispose également d'un logiciel de contrôle avancé qui offre un fonctionnement amélioré et intuitif. Cela permet de contrôler l'application de l'outil aux plaquettes, et de personnaliser facilement les paramètres d'imagerie en fonction des besoins de l'utilisateur. De plus, le système est équipé d'une unité de reconnaissance de fonctionnalités avancée qui détecte et mesure automatiquement les paramètres des motifs de filière sur la surface de la plaquette. WF-736 XS DUO offre une solution efficace et fiable pour l'inspection des masques et des plaquettes dans l'industrie exigeante des semi-conducteurs. Avec sa combinaison de technologie d'imagerie puissante et de fonctionnement intuitif, la machine est capable de détecter une grande variété de défauts critiques, de 0.1um - 2um. Il réduit considérablement le temps et les coûts associés à l'inspection manuelle, et permet un flux de processus efficace dans les environnements critiques de production.
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