Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX 300 #293628469 à vendre en France

MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS SemVision CX 300 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes pour les applications de semi-conducteurs. C'est un système fiable et à grande vitesse qui a été conçu pour inspecter rapidement et avec précision les masques et les plaquettes semi-conducteurs adaptés aux nœuds de processus avancés. L'unité offre une inspection complète en ligne des photomasques, des plaquettes et des micro-appareils avec une précision et une vitesse sans précédent. Cette machine de contrôle obtient un débit élevé grâce à sa puissante optique et sa puissance d'éclairage extraordinaire. L'unité est conçue pour contrôler la taille, la fréquence et la forme du faisceau sur une plaquette ou un masque à différentes profondeurs afin qu'elle puisse recueillir et évaluer des données pour assurer la qualité du produit. Le CX 300 peut détecter une variété de défauts critiques tels que les défauts ponctuels, la rugosité du bord de ligne, les particules résiduelles, les erreurs de largeur de ligne, etc., afin d'obtenir des résultats précis. Le CX 300 est capable de détecter les défauts les plus petits et les plus difficiles sur l'ensemble de la plaquette. Il peut inspecter des plaquettes jusqu'à 32x32 cm de taille de substrat et jusqu'à 1mm d'épaisseur. L'outil supporte également une variété de substrats tels que silicium, saphir, quartz, verre, etc. Le CX 300 supporte plusieurs optiques avancées, dont la microscopie holographique numérique, l'imagerie à profondeur variable, la métrologie de la tranche à la tranche, et l'imagerie numérique pour fournir une analyse détaillée des défauts. En outre, il est équipé d'un large choix de composants d'éclairage et de conditions d'éclairage avancées, y compris un atout d'éclairage maître en option, qui assure des résultats d'imagerie plus précis. Le CX 300 est livré avec une plateforme logicielle intuitive qui permet aux utilisateurs de naviguer, contrôler et analyser facilement les données collectées par l'unité sans avoir besoin de formation. Il dispose d'un logiciel avancé d'examen automatisé des défauts, qui peut rapidement détecter, mesurer et classer les défauts. Le logiciel peut également être utilisé pour générer des objets de type CAO et pour analyser l'aberration structurelle environnante (SSA) des changements de CD. Dans l'ensemble, AMAT SemVision CX 300 est un modèle avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour fournir des résultats rapides et de haute précision. Il peut aider à l'inspection de la plus haute qualité, les appareils complexes et ses capacités logicielles fournissent un fonctionnement convivial et intuitif qui fait de l'unité un outil fiable pour la fabrication de semi-conducteurs.