Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX #111258 à vendre en France

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ID: 111258
Style Vintage: 1998
Automated SEM Review System, 8" Includes: - SEM resolution of 4nm at 1KV with SEM Perspective Imaging - High Resolution Color Optical Microscope - SEM 45 Degree Tilt and 360 Degree Rotation - Automated Review Flow - Two (2) 8" Cassette Stations - Interface to Inspection Tools (KLA, Tencor, Orbot) SEM Based ADC Package SEMV-OPT2. Integrated EDX Spectrometer Integrated Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (Nitrogen Free Cooling) SEMV-OPT3 COMMUNICATIONS OPTION: SEC-II GEM Compatible Host Communication Software: SEMVision CX Unpatterned Wafer Review CX SEMVision API Retrofit SEMVision Cx Plus Beta Warehoused 1999 vintage.
AMAT (APPLIED MATERIALS) AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX est un masque entièrement automatisé et un équipement d'inspection de plaquettes qui fournit une capture d'image supérieure pour les exigences d'application les plus difficiles. Il combine des technologies avancées d'optique, de détection et d'imagerie pour offrir un produit final de qualité supérieure de manière efficace et rentable. AMAT SemVision CX garantit que les paramètres critiques, tels que les désalignements mineurs, la rugosité, les rayures, la précision des dimensions critiques et la planarité de surface, sont identifiés et suivis lors de l'inspection des étapes du masque et de la plaquette. Il est conçu pour fournir une vitesse et une précision d'inspection plus élevées que tout autre système de l'industrie. Il est conçu pour fournir un résultat d'inspection uniforme et précis sur plusieurs types de plaquettes et de masques. Il se compose d'une caméra haute résolution qui capture des images de chaque plaquette ou masque en quelques secondes. Il peut être utilisé pour inspecter des plaquettes et des masques semi-conducteurs standard, ainsi que des masques qui utilisent du silicium sur isolants, des couches enterrées et des IC 3D. MATÉRIAUX APPLIQUÉS SEM VISION CX intègre deux configurations optiques innovantes, qui sont optimisées pour différents types de structures d'appareils. Il utilise également une unité d'imagerie double face qui permet de capturer simultanément les images avant et arrière pour une inspection complète. La machine utilise également un algorithme avancé de détection de bord pour détecter avec précision les bords des caractéristiques sur la plaquette ou le masque. MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision CX dispose d'une interface graphique conviviale pour faciliter la navigation de l'outil, ainsi que fournir des diagnostics visuels et la navigation de liste hiérarchique. L'actif est équipé d'un port USB pour le transfert de données, permettant une configuration rapide et facile. AMAT/APPLIED MATERIALS SEM VISION CX est également équipé d'un logiciel d'analyse de données qui comprend l'examen des défauts, de la rugosité et d'autres imperfections. Il peut également être utilisé pour mesurer la rugosité de surface, la planéité et la taille de la matrice afin de fournir la précision du produit final. De plus, le modèle peut être utilisé pour effectuer la cartographie des plaquettes, la reconnaissance et la traçabilité des motifs, la métrologie et la classification des défauts. Dans l'ensemble, AMAT/APPLIED MATERIALS (AMAT) SEM VISION CX offre de meilleures capacités d'inspection des masques et des plaquettes, ce qui permet d'accélérer le débit et d'améliorer l'efficacité du processus de production. Il a la capacité d'améliorer le rendement et de réduire les défauts coûteux, aidant les fabricants à rester compétitifs dans le paysage des semi-conducteurs en constante évolution.
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