Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX #9185367 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX
ID: 9185367
Taille de la plaquette: 8"-12"
Style Vintage: 2004
Review station, 8"-12" E-Beam Resolution: 4 nm at 1kV EDX Automatic defect review and classification capability Multi perspective imaging SEM Autofocus SONY 990 CCD Optical video image: 2.5x, 20x and 100x Vacuum chamber (3) Wafer tilt positions (0, 15 and 45 degrees) SECS II Compatible (2) BROOKS AUTOMATION Fixed load ports SGI (Main computer): IRIX Silicon graphics EDX: Sun SPARC 5 Operating system: Solaris MEC, WHC / Image computer: Windows NT NFS Supports Missing part: Hard disk drive 2004 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour les environnements semi-conducteurs les plus exigeants. Il a le plus haut débit disponible sur le marché, bénéficiant d'un célèbre masque automatisé et des systèmes de manutention, d'étalonnage et d'alignement des plaquettes. Le système est évolutif et évolutif, capable de répondre aux exigences les plus avancées pour l'inspection des plaquettes et des masques. La conception du CX intègre la plate-forme logicielle AdaptiView pour s'assurer que les modèles de masques et les structures associées, comme la rugosité des lignes de lithographie (LER) et les mesures de dimensions critiques (CD), sont identifiés et mesurés avec précision. En outre, la plate-forme logicielle fournit la plus grande précision pour les mesures de plaquettes et de réticules, ainsi que la capacité de surveiller la croissance et les changements sur la surface de la filière en raison de motifs multicouches. La technologie d'imagerie de l'unité utilise plusieurs options d'objectif, de télécentrique et asphérique à l'immersion et 3D, ainsi que son propre « Light Box » Illumination, avec des images haute résolution et multicolores. Il supporte une large gamme de substrats de plaquettes, y compris SOI, silicium, verre et autres. En termes de capacités d'inspection, le CX dispose d'une gamme de fonctionnalités telles que le logiciel de gestion de rendement (YMS), qui permet aux utilisateurs d'analyser intuitivement les défauts et d'obtenir des améliorations de rendement plus rapides. Les utilisateurs peuvent également définir des tolérances de processus et personnaliser les règles pour réduire les faux appels et les classer de manière uniforme et efficace. En outre, le CX offre une machine intuitive de génération de rapports d'inspection par masque avec analyse statistique, permettant une isolation et une analyse plus rapides des défauts. En outre, l'outil offre une gamme complète de capacités manuelles (MPD) et automatisées (CSPD) de détection et d'évaluation des particules. Il utilise les dernières technologies de balayage de faisceau pour l'inspection des plaquettes et des réticules, ainsi que les algorithmes les plus précis et les plus à jour pour la détection et la correction des défauts. Pour conclure, AMAT SemVision CX Asset est un modèle avancé conçu pour répondre aux exigences les plus exigeantes dans les applications semi-conductrices. Il offre des systèmes automatisés de manipulation, d'étalonnage et d'alignement des masques et des plaquettes, ainsi que des technologies d'imagerie supérieures et les dernières technologies de balayage par faisceau. En outre, il fournit des plates-formes logicielles avancées pour la détection, l'analyse et l'isolation des défauts efficaces.
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