Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9167173 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes spécialement conçu pour l'industrie des semi-conducteurs, permettant de vérifier rapidement et avec précision toutes les caractéristiques critiques des puces avant leur fabrication. Sa technologie avancée d'optique et d'imagerie permet d'améliorer le débit et le rendement de la conception des circuits intégrés avec un nombre réduit de défauts et de défaillances. AMAT SemVision G2 utilise la technologie Quadrant Detector pour l'assurance d'imagerie et une meilleure performance de reconnaissance des motifs. Le réseau optique spécialisé du système permet le balayage à quatre voies des motifs de masque, permettant la capture de tous les motifs sous de multiples angles. Son unité vectorielle augmente l'imagerie haute résolution des caractéristiques individuelles pour fournir une reconnaissance claire et détaillée des caractères. De plus, son balayage à grande vitesse permet de détecter et d'éliminer rapidement les défauts de production. La machine est équipée d'une chambre double, classe 10000 salle blanche qui est optimisée pour des douches à air efficaces et la filtration de l'air de chambre. L'outil de douche à air permet à l'air ultrapure de pénétrer dans l'appareil, réduisant ainsi le risque de contamination par les particules. Il utilise également des souffles d'air déclenchés en position pour évacuer les particules pendant le traitement et ainsi faciliter le débit élevé. En outre, l'actif est conçu pour offrir un niveau de transparence maximum avec sa conception à double fenêtre, qui est idéalisée pour une réponse d'imagerie dynamique. MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G2 intègre une caméra à haute sensibilité qui fournit des vitesses rapides de traitement de données et d'imagerie haute définition (HD) avec son modèle de capteurs d'image haute performance à couplage de charge (CCD). L'équipement est équipé de logiciels embarqués pour une gestion efficace de l'information et pour la compatibilité avec le traitement unique ou multi-niveau. En outre, son système d'exploitation avancé prend en charge à la fois le modèle complet et la capture des défauts avec une traçabilité améliorée et des fonctions de conversion de traces. En conclusion, l'unité d'inspection des masques et plaquettes SemVision G2 est optimisée pour fournir une imagerie précise et fiable avec détection efficace des défauts et des pannes pour la fabrication des circuits intégrés. Il intègre des technologies d'optique et d'imagerie avancées qui permettent des images haute résolution d'angles multiples, des souffles d'air déclenchés en position, des caméras à haute sensibilité, des capteurs d'image CCD, des fonctions de compatibilité logicielle et de traçabilité.