Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9190574 à vendre en France

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ID: 9190574
Style Vintage: 2002
SEM Review system 2002 vintage.
MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS SemVision G2 masque et wafer inspection équipement est le chef de file de l'industrie dans l'inspection lithographique de haute précision, offrant une qualité d'image supérieure, précision et vitesse. Le système offre une solution intégrée de traitement et d'inspection de l'image qui est optimisée pour les noeuds de lithographie les plus avancés, y compris 6nm et plus bas. Avec l'unité d'imagerie la plus avancée, ce type d'inspection permet aux clients de garantir le plus haut niveau de qualité en matière de développement de produits. En utilisant un étalonnage d'imagerie dédié pour chaque taille de fonction et noeud, cette machine fournit la plus grande précision dans l'inspection visuelle de la matrice aussi bas que 6nm. Avec un imageur lumineux de 12 pouces à haute résolution et une mise au point automatique, l'outil fournit des images claires et vives avec un contraste fiable sur tout le champ d'image. En plus de l'inspection de haute précision, AMAT SemVision G2 propose également un examen non destructif des défauts sur les masques et les plaquettes avec son atout breveté de détection automatique des défauts. Ce modèle de détection de défauts est utilisé pour détecter des défauts tels que le pontage d'extrémité de ligne, le pontage de fosse, les ruptures de ligne, la détection de défauts de proximité optique (DPO), les particules et la contamination. L'équipement offre également un système de balayage intégré qui recueille les données de divers appareils tels que la sonde de mesure CD et FOUP. Cette unité peut également être personnalisée pour effectuer des mesures de fente CD ou de fente binaire, ainsi que des mesures d'aberration. En outre, la machine permet aux clients de gagner un temps précieux dans le processus de développement en permettant une inspection et une mesure rapides, faciles et précises. En termes de flexibilité et de productivité, l'outil SemVision G2 de MATÉRIAUX APPLIQUÉS offre une large gamme de fonctionnalités innovantes pour répondre aux exigences des clients. Cet atout offre la possibilité de reconfigurer les dimensions des plaquettes à la volée et comprend une nouvelle architecture de port de chargement. Il est également doté d'une interface GUI conviviale, d'une sélection automatique d'outils et d'une interface intuitive et facile à utiliser offrant une navigation simple pour des opérations complexes. Dans l'ensemble, le modèle SemVision G2 est la solution leader pour l'inspection des masques et des plaquettes, offrant une imagerie et un étalonnage avancés pour une précision de haute précision. Son imagerie et son balayage intégrés offrent des résultats précis avec moins de temps et d'argent investissement, permettant aux clients d'être plus efficaces et productifs dans leur processus. Avec des images de la plus haute qualité et la détection de défauts la plus rapide, il offre la meilleure performance en lithographie pour les noeuds de lithographie les plus avancés.
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