Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9227745 à vendre en France

AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G2 est un puissant équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour fournir une détection et une caractérisation des défauts très précises et rapides. Le système est équipé des dernières technologies d'inspection, permettant une détection rapide et efficace des défauts et une localisation avec une grande précision pour l'inspection des composants semi-conducteurs au niveau de la production. AMAT SemVision G2 présente un corrigé de l'égarement 4.5kV le balayage du microscope électronique (SEM) intégré avec l'état de l'acquisition d'image d'art et reflétant le traitement des technologies. Il est conçu pour fournir des performances d'imagerie et d'analyse supérieures pour les défauts complexes. L'unité utilise des détecteurs avancés tels qu'une détection de signal à quatre canaux, un détecteur d'inclinaison à haute sensibilité et une technologie de contraste d'amplitude pour une résolution de contraste supérieure, offrant une fidélité, une répétabilité et une fiabilité d'imagerie supérieures. MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G2 dispose également d'un mode de révision des plaquettes à haut débit qui permet aux utilisateurs d'afficher et de classer efficacement les plaquettes dans les volumes de production. En plus des capacités d'imagerie, SemVision G2 est équipé d'une machine d'auto-alignement 3D qui permet l'auto-alignement rapide de l'échantillon, la rotation de l'image et la détection d'inclinaison. Il permet également aux utilisateurs d'effectuer une analyse 3D des rayons X en orientation descendante et latérale. Avec des applications intégrées d'analyse d'image, les défauts peuvent être précisément dimensionnés et classés avec facilité. En outre, l'outil est conçu avec un accès multi-utilisateurs, de sorte que plusieurs utilisateurs peuvent utiliser l'actif simultanément, permettant une productivité accrue et des temps de cycle plus courts. MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS SemVision G2 offre une combinaison de capacités d'imagerie et d'analyse avancées à un prix abordable, ce qui en fait un outil idéal pour l'inspection des composants semi-conducteurs. Les technologies matérielles et logicielles intégrées offrent une résolution d'image et un contraste supérieurs pour une analyse rapide et précise des défauts. Avec un auto-alignement 3D, un accès multi-utilisateurs et un traitement d'image flexible, le modèle est conçu pour répondre aux exigences d'inspection exigeantes de l'industrie des semi-conducteurs.