Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB #9264196 à vendre en France

MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS SemVision G3 FIB (faisceau ionique focalisé) est un équipement complet d'inspection de masque et de plaquettes. Ce système utilise la technologie exclusive de microscopie électronique optique et à balayage (SEM) pour fournir des wafer de pointe, masque et autres capacités d'inspection métrologique de surface d'échantillons plats. Voici les points saillants de SemVision G3 : Capacités d'imagerie supérieures et localisation des défauts. L'imagerie SEM avancée permet l'imagerie détaillée et la localisation des défauts, contribuant à assurer une évaluation précise des structures critiques et des défauts dans un large éventail de structures. Classification complète des défauts. L'unité offre une classification complète des défauts pour les plaquettes, masques et autres échantillons plats, fournissant une détection et une classification fiables des particules, contaminants et défauts structurels. Contrôle de la machine. SemVision G3 offre un contrôle des outils avec des interfaces avancées de programmation logicielle et utilisateur, permettant un débit automatisé et une utilisation efficace de l'actif. Indexation automatisée et tri des défauts. Les capacités automatisées d'indexation et de tri des défauts, qui permettent une reconnaissance rapide des motifs, offrent un excellent aperçu du processus de défaut. Cela aide à fournir des capacités de carottage de défaut supérieures à temps d'analyse de tir unique. Intégration avec AMAT et Third-Party Software. SemVision G3 est capable de s'intégrer avec d'autres MATÉRIELS APPLIQUÉS et des logiciels tiers, permettant une analyse de données rentable et une validation rapide des produits. Global Support. Le modèle est livré avec un réseau global de soutien, y compris l'installation, la formation et le soutien technique. Cela aide les utilisateurs à maximiser leurs performances et à minimiser les temps d'arrêt. En conclusion, AMAT SemVision G3 FIB est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes très avancé qui offre des capacités supérieures d'imagerie et de localisation des défauts, une classification complète des défauts, une indexation automatisée et un tri des défauts, et qui prend en charge l'intégration avec d'autres logiciels AMAT/APPLIED MATERIALS et tiers. Le système est également livré avec un excellent réseau de support mondial pour des performances maximales et un temps d'arrêt minimal.