Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #293821128 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes utilisé pour détecter les défauts des puces semi-conductrices et des circuits intégrés. Il s'agit d'un étage d'imagerie haute résolution, associé à un éclairage précis et à des technologies d'imagerie optique avancées. Le système peut être utilisé pour inspecter des tailles de plaquettes allant de 200mm à 300mm avec une résolution allant jusqu'à 0,1 microns. L'unité utilise une technologie d'imagerie CCD qui fonctionne en capturant chaque structure semiconductrice individuelle et son emplacement sur la plaquette. La machine utilise alors des algorithmes pour comparer la forme des caractéristiques à un modèle sans défaut et le comparer à une règle semiconductrice kernale ou acceptable précédemment acceptée pour ses performances. Une caméra est montée sur un étage de navigation précis directement sur la plaquette. La plaquette imagée est éclairée avec un ensemble de LED, qui contrôlent précisément l'intensité d'éclairage, la direction et la polarisation. Cette lumière augmente les motifs de chaque structure individuelle et aide à définir des détails trop petits pour que l'œil nu puisse les voir. La lumière sert également à révéler des défauts, des circuits intégrés et d'autres caractéristiques, ainsi qu'à augmenter le contraste dans l'identification des défauts qui peuvent être présents. L'outil d'imagerie permet l'imagerie et l'amélioration simultanées à grande vitesse, et l'intégration d'informations de contraste élevé et faible afin de détecter les signatures optiques de défauts potentiels. L'actif est contrôlé par une interface utilisateur graphique multi-utilisateurs et multi-tâches. Cela permet à plusieurs utilisateurs d'accéder au modèle et d'exécuter des tâches concurrentes. Il est possible de sauvegarder et d'analyser des emplois à un format de fichier qui peut être utilisé par d'autres applications logicielles AMAT. L'équipement dispose également d'outils et de processus personnalisables, ainsi que d'une vaste bibliothèque de filtres optiques, d'algorithmes et de recettes. Le système est capable de détecter automatiquement la topologie et les défauts des motifs, ainsi que l'analyse de masques multi-motifs, l'analyse de l'instabilité des processus et l'analyse des flux de composés non visuels. Dans l'ensemble, AMAT SemVision G3 Lite est un outil puissant pour identifier et examiner les défauts des circuits intégrés et des puces semi-conductrices. Il combine imagerie de précision, technologie optique avancée et algorithmes sophistiqués pour offrir un moyen fiable d'assurer la qualité de ces composants complexes.