Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9287515 à vendre en France

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour faciliter l'inspection fiable et efficace des appareils microélectroniques haut de gamme. Le système utilise des fonctionnalités telles que l'imagerie quasiparticulaire haute résolution, l'optique de champ lumineux et un module unique de reconnaissance de motifs pour fournir des capacités supérieures de détection et de notification des défauts. AMAT SemVision G3 Lite est équipé d'un éclairage LED couleur avancé, permettant à l'unité de mesurer avec précision les différences de motifs dans les échantillons éclairés et non éclairés, permettant aux utilisateurs d'inspecter une plus large gamme de matériaux. Il dispose également d'une projection d'écran scintillant qui affiche 150nm d'images de résolution de l'échantillon, fournissant aux utilisateurs des images détaillées pour aider à la détection des défauts de sous-microns. La fonction auto-mesure de la machine utilise une variété de techniques d'analyse de motifs pour détecter la forme, la taille et les caractéristiques de niveau de gris, qui permettent aux utilisateurs de mesurer rapidement et avec précision les caractéristiques de chaque caractéristique. La fonction d'auto-mesure unique peut également être utilisée pour identifier d'éventuels défauts, ou des changements dans les modèles, fournissant ainsi aux utilisateurs des commentaires sur les causes potentielles du défaut. MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G3 Lite est également équipé d'un module d'imagerie haute vitesse, offrant aux utilisateurs 2,5 Gigapixel/seconde débit d'imagerie. Grâce à ce module d'imagerie, les utilisateurs peuvent rapidement acquérir des images allant jusqu'à 10 échantillons à la fois avec un champ de vision minimal de 150nm. De plus, le module est capable d'imiter une plaquette entière en moins d'une seconde. L'outil fournit également aux utilisateurs divers outils d'analyse tels que l'alignement des masques et l'imagerie par transistor, permettant aux utilisateurs d'identifier et de classer avec précision les défauts. Grâce à ses puissantes capacités d'analyse, SemVision G3 Lite fournit également aux utilisateurs une variété de données utiles telles que des formes critiques, des tailles de fonctionnalités et des informations de niveau gris. Dans l'ensemble, AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite est un masque avancé et un outil d'inspection de plaquettes avec une large gamme de fonctionnalités et de capacités, ce qui en fait un outil idéal pour inspecter des puces microélectroniques haut de gamme et d'autres appareils complexes. Avec ses capacités d'imagerie très avancées, ses fonctions d'analyse puissantes et sa vitesse d'acquisition rapide, AMAT SemVision G3 Lite est un outil puissant et fiable pour inspecter des appareils de toute taille et complexité.