Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9380470 à vendre en France

MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS SemVision G3 Lite est un équipement d'inspection conçu pour analyser rapidement et avec précision les défauts sur les masques et plaquettes haut de gamme. Utilisant une suite innovante d'outils d'imagerie, de métrologie et d'inspection de masques, le système est capable de détecter et de mesurer même les défauts les plus minuscules. L'unité est conçue avec un multiplexeur pour le fonctionnement simultané des microscopes infrarouges et visibles, offrant une excellente résolution avec une vitesse et une précision accrues. Il est associé à AMAT SEMVision Controller pour un contrôle précis des paramètres d'imagerie et une détection automatisée des défauts. La machine comprend également un algorithme de numérisation DLA Group D pour une analyse rapide et répétable et une compatibilité rétrospective avec les anciennes plateformes logicielles. Les capacités d'imagerie ultra haute résolution de l'outil permettent une détection précise des défauts de surface et des particules. Il établit une base fiable sur laquelle évaluer les sources de défauts existantes ou émergentes, permettant aux fabricants de masques d'identifier rapidement la cause des problèmes et de les corriger en conséquence. De plus, l'actif comprend une puissante gamme d'outils d'inspection des masques, y compris la reconnaissance des motifs, la détection des bords et le repérage des contours, afin d'assurer le plus haut niveau de précision. AMAT SemVision G3 Lite intègre en outre des technologies numériques de numérisation, de reconnaissance de motifs et de délestage de cartes SEM (DLA Group D) à basse résolution. Cette combinaison fournit une image complète des défauts et une image complète des surfaces des plaquettes, avec la capacité d'identifier, de caractériser et de localiser les défauts. En outre, le modèle est conçu pour une installation et une implémentation rapides, avec une interface logicielle intuitive qui permet aux utilisateurs d'accomplir leurs tâches rapidement et facilement. En outre, l'équipement peut être interfacé à des systèmes de métrologie sur plaquettes connectés au réseau pour une analyse rapide et pratique. Dans l'ensemble, MATÉRIAUX APPLIQUÉS Le système SemVision G3 Lite offre aux utilisateurs un moyen analytique, rapide et fiable d'identifier, d'analyser et de caractériser les défauts sur les plaquettes et masques haut de gamme. En utilisant des outils avancés d'imagerie, de métrologie et d'inspection des masques, l'unité élimine les hypothèses, fournissant des résultats précis avec une précision inégalée.