Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9382818 à vendre en France

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite
ID: 9382818
Defect review system.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui fournit une inspection automatisée et haute résolution des photomasques, des dispositifs microélectroniques et des affichages. Le système est un choix idéal pour analyser les défauts critiques difficiles à détecter avec des systèmes d'inspection optique standard. L'unité dispose d'une machine d'imagerie automatisée à haute résolution avec un étage de mouvement rotatif 10X couvrant une surface de visualisation allant jusqu'à 600 mm x 600 mm. L'outil dispose également d'un processeur de signal numérique haute vitesse qui permet une inspection rapide de plusieurs parties en peu de temps. L'optique intègre un microscope optique avec une base de focalisation réglable. La base réglable permet un réglage de profondeur de champ et est également équipée d'un mécanisme de pas synchrone motorisé pour un mouvement de scène précis. La suite de logiciels de traitement d'images de l'actif permet une détection très fiable et précise des défauts tels que la contamination des particules, les rayures, les trous d'épingle, les variations d'épaisseur de film et d'autres types de défauts. Le logiciel intègre également des techniques d'analyse d'images telles que la reconnaissance de motifs, le regroupement et la mesure de dimensions. Le logiciel s'intègre à une plateforme Triad MEA pour la capture et l'analyse rapides d'images. Le modèle comprend également une interface de souris qui contrôle les mouvements de scène, zoom et focus. Les opérateurs peuvent également accéder à une application Web à distance pour gérer l'équipement, surveiller les performances en temps réel, mettre à jour les paramètres et examiner et exporter les images capturées. Les capacités avancées de mesure, de précision et de performance du système le rendent idéal pour une utilisation dans des environnements de production de semi-conducteurs, de FPD et de photomasques. En outre, l'unité peut être utilisée dans la recherche ou le développement de nouveaux procédés et matériaux ainsi que le contrôle de la qualité, l'inspection des plaquettes et l'inspection des couches diélectriques.
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