Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9072082 à vendre en France

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ID: 9072082
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2005
Defect review system, 12" (2) Loadports with FOUP capable (TDK) RFID Type: Loadports carrier reader BROOKS Robot Light source: SE-Gun tip Resolution: 10 nm Optical microscope Automatic defect review Automatic defect classification Site inspection Automatic defect localization Beam tilt Operator console UPS EPDU FFU Tool cover Isolation block 2005 vintage.
AMAT AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Mask & Wafer Inspection Equipment est un système automatisé conçu pour inspecter les masques, réticules et plaquettes et détecter les erreurs et les non-conformités. L'unité offre une capacité de balayage rapide des plaquettes, permettant une détection efficace des défauts sur les plaquettes à grande échelle. La machine est basée sur une caméra CMOS haute vitesse de 6,25 méga-pixels, qui est montée sur une tête d'inspection propriétaire avec matériel et logiciel de support. Il intègre également un étage motorisé très précis intégré dans l'outil avec des pièces usinées de précision pour le positionnement et le déplacement précis et précis du masque et de la plaquette pendant le processus d'imagerie et de contrôle. L'actif est capable de détecter des défauts jusqu'à 1 micron de taille et peut inspecter une zone jusqu'à 14 pouces de diamètre. Il est également capable d'inspecter plusieurs plaquettes simultanément et peut détecter à la fois des imperfections de surface et des erreurs de traces dans le masque ou la plaquette. De plus, le modèle AMAT SemVision G3 Masque et Wafer Inspection est capable de reconnaître différents types de défauts, y compris les vides, les ruptures de ligne, les caractéristiques manquantes et la désorientation. L'équipement dispose d'un logiciel programmable de génération et de capture d'images qui peut être utilisé pour personnaliser le traitement d'images. Cela inclut la capacité d'ajuster les paramètres d'inspection pour optimiser les résultats pour l'application. Le logiciel permet également à l'utilisateur d'analyser les données acquises et de générer des rapports détaillés, qui peuvent être utilisés pour la documentation, le contrôle de la qualité et l'amélioration des processus. AMAT/APPLIED MATERIALS APPLIED MATERIALS SemVision G3 Mask & Wafer Inspection System est conçu pour fournir des performances d'inspection précises et précises, tout en tenant compte des besoins des différents procédés et applications de fabrication. Sa conception robuste et son logiciel convivial permettent aux utilisateurs d'inspecter et de détecter les défauts rapidement et avec précision, permettant une production efficace et fiable de haute qualité.
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