Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9192496 à vendre en France

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AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3
Vendu
ID: 9192496
Defect review system With EDX, tilt.
MATÉRIAUX AMAT/APPLIQUÉS SemVision G3 est un équipement de nouvelle génération pour l'inspection des masques et des plaquettes spécialement conçu pour réduire le temps d'examen des défauts critiques et améliorer la précision globale des analyses. Il est idéal pour les applications de lithographie dans la fabrication de dispositifs semi-conducteurs et les procédés de fabrication de plaquettes. Le système permet de détecter des défauts de motifs extrêmement serrés que les techniques traditionnelles de lithographie optique peinent à détecter. Il utilise la technologie avancée UV-Laser Step and Scan (LS&S), qui offre aux utilisateurs la possibilité d'inspecter et de détecter les défauts jusqu'au niveau du noeud sous-8nm. Cela est obtenu grâce à une combinaison d'optique sophistiquée et de traitement du signal numérique puissant. L'unité dispose également d'une fonctionnalité automatisée de métrologie, d'imagerie et d'appariement de motifs, qui combine l'acquisition et l'analyse d'images, l'appariement de motifs numériques et l'analyse de motifs définie par l'utilisateur, en une seule machine unifiée. En utilisant cette fonctionnalité, les utilisateurs sont en mesure de prendre des décisions plus rapides et plus précises en matière de gestion des processus et des rendements. De plus, AMAT SemVision G3 dispose d'un outil avancé de vérification sur bande. Cette fonctionnalité permet à l'actif d'inspecter à la fois chaque couche et composant sur une puce avant d'aller à la fonderie. Il comprend également un modèle automatisé d'examen des défauts qui aide les utilisateurs à identifier, marquer et classer les défauts au niveau de la matrice avec précision et rapidité. Il comprend également un moteur OCD avancé (Optical Electron Correlation), qui élimine les faux défauts positifs. L'équipement offre un design ergonomique, qui permet aux opérateurs de travailler confortablement et efficacement en réduisant les contraintes et la fatigue. En outre, le débit élevé et le faible coût total de possession sont des avantages importants du système SemVision G3 des matériaux appliqués. Il nécessite également une formation minimale de l'opérateur et offre une intégration facile dans les lignes de production existantes. Dans l'ensemble, l'unité SemVision G3 est une puissante, avancée, et efficace masque et wafer inspection machine. Il offre aux utilisateurs la possibilité de détecter des défauts jusqu'au niveau du noeud sous-8nm avec précision et fiabilité, ainsi que des solutions améliorées de gestion des processus et des rendements. L'outil offre également un meilleur rapport coût-efficacité, un confort d'utilisation et une intégration facile dans les lignes de production existantes, ce qui en fait un choix idéal pour les applications de lithographie.
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