Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9261314 à vendre en France

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ID: 9261314
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2006
Defect review system, 12" Process: SEMREV Wafer ID reader Backside bar code wafer scribe reader Carrier ID: Tiris compatable RFID Operator access switch: VeritySEM-AUTO 8 Wafer mapping: Through beam mapper VeritySEM-AUTO 6 Optical FOV: Large optical FOV 100x, 20x and 2.5x Tilt function Contact hole profile grade SECS Capable output VeritySEM-SYS2 Wafer stage: Anorad stage Interlocks: ETU Access panel Interface: (2) FOUP (Continuous flow operation) Remote units: Dry and vacuum pumps Signal tower: Red / Yellow / Green / Blue Power supply: HVPS, CDM Does not include dry pumps CE Marked 2006 vintage.
AMAT/AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 est un masque de nouvelle génération et un équipement d'inspection des plaquettes conçu pour aider les fabricants de puces à améliorer leurs rendements de processus. Il utilise une série de technologies avancées de vision des machines pour évaluer avec précision les structures et les couches complexes de chaque masque et plaquette, permettant un contrôle des processus plus rapide et plus fiable. Le système fournit des vues détaillées des défauts à l'échelle du nanomètre, contribuant à accélérer et à améliorer les efforts d'optimisation des rendements. AMAT SemVision G3 est équipé d'un ensemble de capacités d'image et d'analyse automatisées. Il utilise des systèmes optiques à fort grossissement pour l'analyse détaillée des motifs, y compris la capacité d'inspection au niveau nanométrique. Il capte et signale les défauts, tels que les micro-vides, les bosses et les rayures, sur une gamme de matériaux, y compris l'arséniure de gallium et la ferrite. Cela permet aux opérateurs de suivre avec précision et d'éliminer rapidement les sources d'erreurs. L'unité est construite sur une gamme complète d'outils de gestion de matériel, de logiciels et de données. Ses capteurs intégrés permettent une variété de méthodes d'inspection, y compris le champ sombre, le champ lumineux, l'oblique, hors axe et l'imagerie à haute résolution assistée par champ lumineux. Pour faciliter l'analyse et le reporting, la machine est intégrée aux technologies les plus récentes de traitement d'images et de reconnaissance de motifs, y compris la détection de motifs 3D, les classifications d'objets et les modèles automatisés flexibles. MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G3 offre également une gamme de services de contrôle de qualité et de contrôle statistique des processus. Il s'agit notamment de la détection des défauts, de l'inspection des masques et de l'évaluation des particules. L'outil offre également une gamme d'outils d'analyse des défaillances, fournissant aux opérateurs des informations axées sur les données qui permettent une prise de décision éclairée. De plus, SemVision G3 offre des services d'appariement et de classement des plaquettes à la volée. Ces services utilisent des données d'analyse en temps réel pour évaluer les tendances, identifier les anomalies et comparer les résultats avec le rendement prévu. Cela aide les fabricants à évaluer et optimiser rapidement la qualité de leurs produits. Dans l'ensemble, AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 fournit un masque et un outil d'inspection des plaquettes intégrés et puissants qui aident les fabricants de puces à améliorer leurs rendements de processus. Ses caractéristiques avancées, y compris l'analyse des motifs, la détection et l'analyse des défauts, l'appariement et le classement des plaquettes, et l'analyse des défaillances, en font un outil précieux pour améliorer la qualité de la production.
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