Occasion AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9274013 à vendre en France

AMAT/MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G3 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui offre les performances optiques et la qualité d'image les plus élevées, permettant le placement et l'alignement les plus précis des masques et des plaquettes. Le système peut être utilisé pour diverses applications, y compris la détection de défauts, la mesure de superposition et la profilométrie 3D. AMAT SemVision G3 est conçu pour fournir des capacités d'imagerie et d'inspection supérieures à l'industrie des semi-conducteurs. Il utilise des technologies d'imagerie avancées et un algorithme automatisé pour fournir des capacités précises de détection de défauts, de mesure de superposition et de profilométrie 3D. L'unité utilise trois systèmes d'imagerie indépendants qui, lorsqu'ils sont combinés, offrent un niveau de performance inégalé. Ces systèmes comprennent la machine d'imagerie quasi-visible (NIS), l'outil d'écriture de faisceau d'électrons (EBS), et le Wafer and mask Inspection Asset (WMIS) combiné. Le NIS offre une résolution optique pour caractériser les caractéristiques de taille nanométrique sur un grand champ de vision. Il a également la capacité de détecter et de mesurer de très petits micro-défauts ou structures. La combinaison des systèmes NIS et EBS permet d'obtenir la plus grande précision possible dans les mesures d'alignement critique. Le WMIS est un modèle combiné d'inspection des plaquettes et des masques, qui utilise des technologies d'imagerie de pointe et des algorithmes pour fournir des capacités précises de détection des défauts et de mesure des chevauchements. L'équipement tire parti de l'imagerie vidéo en deux dimensions (2D) et d'une technique de balayage 3D qui permet à l'utilisateur d'analyser et de mesurer avec précision la plaquette et le masque. MATÉRIAUX APPLIQUÉS SemVision G3 dispose également d'une gamme d'autres fonctionnalités, telles que l'étalonnage et le fonctionnement automatisés, l'imagerie 16 bits de résolution, un microscope confocal laser 3D de métrologie embarqué (LCM), et un système intégré de mesure et d'analyse contrôlée par logiciel. SemVision G3 est la solution idéale pour l'inspection et la caractérisation rapides et précises des masques et des plaquettes, permettant aux professionnels des semi-conducteurs de fournir des produits et services de haute qualité. Son large éventail de fonctionnalités et ses capacités d'imagerie et d'analyse avancées en font un choix idéal pour toute application semi-conductrice.